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公开(公告)号：CN108169003B
公开(公告)日：2020-10-27
申请号：CN201711411793.6
申请日：2017-12-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供的一种基于安培力的微纳米材料原位力学性能的测试装置及方法，包括透射电子显微镜和力电耦合样品杆，其中，力电耦合样品杆置于透射电子显微镜中，在测试时，导电体和力电耦合样品杆中的导电压头串联，形成电回路，且在通电时产生安培力，所述安培力大于微纳尺度样品的静摩擦力；同时，力电耦合样品杆中的力学控制器通过导电压头向导电体施加定值载荷；本发明满足了微纳米材料的原位力学性能的测试要求；且在测试时，使得微纳米材料的原位力学性能测试试验所需的横向力可控；该装置克服了现有的微纳米材料的原位力学性能测试所存在的技术问题；同时，将整个试验置于透射电子显微镜中，可实时观察试验过程。
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公开(公告)号：CN108169003A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711411793.6
申请日：2017-12-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供的一种基于安培力的微纳米材料原位力学性能的测试装置及方法，包括透射电子显微镜和力电耦合样品杆，其中，力电耦合样品杆置于透射电子显微镜中，在测试时，导电体和力电耦合样品杆中的导电压头串联，形成电回路，且在通电时产生安培力，所述安培力大于微纳尺度样品的静摩擦力；同时，力电耦合样品杆中的力学控制器通过导电压头向导电体施加定值载荷；本发明满足了微纳米材料的原位力学性能的测试要求；且在测试时，使得微纳米材料的原位力学性能测试试验所需的横向力可控；该装置克服了现有的微纳米材料的原位力学性能测试所存在的技术问题；同时，将整个试验置于透射电子显微镜中，可实时观察试验过程。
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公开(公告)号：CN107421810B
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201710267077.9
申请日：2017-04-21
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种用于装载力电耦合单轴拉伸装置的样品台，包括基体、底座、样品台电路板、样品台定位片、绝缘盖片、螺丝。样品台电路板、样品台定位片、绝缘盖片从下到上依次叠放在样品台底座上，并通过四个螺丝固定，底座由螺丝固定于基体正面，具有体积小巧的特点。本发明填补了纳米压入仪中单轴力电耦合拉伸测试一维和二维微纳材料的空白，具有结构简单，性能可靠，安装简便，便于操作，应用范围广的特点，易于与其他测试方法联用实现大气压下的多场耦合测试。
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公开(公告)号：CN107421810A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710267077.9
申请日：2017-04-21
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种用于装载力电耦合单轴拉伸装置的样品台，包括基体、底座、样品台电路板、样品台定位片、绝缘盖片、螺丝。样品台电路板、样品台定位片、绝缘盖片从下到上依次叠放在样品台底座上，并通过四个螺丝固定，底座由螺丝固定于基体正面，具有体积小巧的特点。本发明填补了纳米压入仪中单轴力电耦合拉伸测试一维和二维微纳材料的空白，具有结构简单，性能可靠，安装简便，便于操作，应用范围广的特点，易于与其他测试方法联用实现大气压下的多场耦合测试。
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