一种分辨率板、分辨率测试系统及测量分辨能力的方法

    公开(公告)号:CN115876440A

    公开(公告)日:2023-03-31

    申请号:CN202211528318.8

    申请日:2022-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种分辨率板、分辨率测试系统及测量分辨能力的方法,其中分辨率板包括板体,板体上设置有至少一组狭缝组,狭缝组包括沿一路径贯穿在板体上的两条平行设置的狭缝,狭缝在垂直于其开设路径的方向具有宽度,狭缝沿其开设路径的方向等宽设置,两条狭缝的外形和宽度一致,两条狭缝间隔设置,且两条狭缝的间距等于狭缝的宽度。通过在钨材料制成的板体上设置至少一组具有两条狭缝的狭缝组,高能X射线通过狭缝组能够在成像板上形成至少一组具有两条条带的图像,通过简单的测量以及多次试验即可得出对应的曲线图,操作简单,且能够直观准确能够体现射线点源在相应的放大比以及狭缝宽度下的分辨能力。

    用于准单轴分幅及多轴同步X射线闪光照相的负载构型

    公开(公告)号:CN115172122A

    公开(公告)日:2022-10-11

    申请号:CN202210910144.5

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种用于准单轴分幅及多轴同步X射线闪光照相的负载构型,包括阳极底板和阴极盘;阳极底板上设置有若干阳极头;阴极盘上开设有若干第一通孔,第一通孔的位置与阳极头的位置相对应,且第一通孔内设置有用于短接阴阳极的金属丝。采用不同的负载串、并联方式及金属丝与RPD结构参数,可灵活调控出光时刻并实现与脉冲驱动源阻抗匹配。本发明提供了实现准同轴分幅闪光照相的技术路径;同时,利用金属丝短接RPD的离轴照相能力可对客体进行同时刻多轴成像,实现物体的三维重构。

    一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法

    公开(公告)号:CN116500667A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202310467439.4

    申请日:2023-04-26

    Abstract: 本发明属于一种基于透射‑吸收法测量能谱的装置及其解谱方法,为了解决现有技术中采用叠片式滤片布置进行能谱测量时,能谱测量装置不易得到准确的吸收片能量沉积与入射光子能量的关系;现有的解谱方法存在若干问题;迭代法、微扰法、期望最大值法要求的初始能谱的准确性将极大影响求解效果;奇异值分解法在测量误差较大、求解能段较多时无法给出符合实际情况的解。本发明提供一种测量高能短脉宽X射线能谱的装置及其解谱方法,采用阵列式滤片‑吸收片布置方式,使得吸收片能量沉积与入射光子能量之间的关系易于计算;另外,解谱方法中,给出了一种基于吉洪诺夫正则化的能谱求解方法,可以通过合并多组解及相应的修正,得到更精细的能谱结果。

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