公开(公告)号：CN115561604A

公开(公告)日：2023-01-03

申请号：CN202210666012.2

申请日：2022-06-14

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 祝令瑜 ,  汲胜昌 ,  焦乾明 ,  占草 ,  刘占磊 ,  张雅欣 ,  王伟丞 ,  李斯盟 ,  熊庆 ,  张凡 ,  吕亮

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种结温测量方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法包括：获取待测量芯片的负载电流、准关断电流以及反向恢复电流；待测量芯片包括绝缘栅双极型晶体管IGBT芯片和续流二极管FWD芯片；准关断电流根据负载电流确定；根据负载电流、准关断电流和预先获取的第一校准关系确定IGBT芯片的结温；根据负载电流、反向恢复电流和预先获取的第二校准关系确定FWD芯片的结温。采用本方法能够提高结温测量的准确率。

公开(公告)号：CN115561608A

公开(公告)日：2023-01-03

申请号：CN202211228491.6

申请日：2022-10-08

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 祝令瑜 ,  汲胜昌 ,  焦乾明 ,  占草 ,  刘占磊 ,  张雅欣 ,  王伟丞 ,  唐义政

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请涉及一种IGBT模块结温监测方法和装置。所述方法包括：获取IGBT模块开通关断过程的集电极电流；根据所述集电极电流，获取所述IGBT模块中二极管反向恢复的过冲电流峰值；根据所述过冲电流峰值以及所述集电极电流，获取所述IGBT模块中二极管的反向恢复电流峰值、以及关断过程的准关断电流；根据所述反向恢复电流峰值获取二极管芯片结温、并根据所述准关断电流获取IGBT芯片结温。采用本方法能够监测到准确的芯片结温。

公开(公告)号：CN111856184A

公开(公告)日：2020-10-30

申请号：CN202010706146.3

申请日：2020-07-21

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 何英杰 ,  焦乾明 ,  支文浩 ,  邱继浪 ,  邓钦瑞 ,  刘进军

IPC: G01R31/00 ,  G06F8/38 ,  G06F8/30

Abstract: 本发明公开了一种典型敏感设备电压暂降耐受能力智能分析仪，该智能分析仪由上位机，可编程电源，被测设备，数据采集卡，单片机，继电器，推拉式电磁铁构成，其中上位机通过LAN口与可编程电源连接，负责控制可编程电源的输出；可编程电源输出端接在被测设备上，负责向被测设备提供测试电压；上位机通过RS232接口与单片机相连，向单片机发送控制指令，单片机与继电器相连，单片机根据上位机的指令控制继电器。继电器与推拉式电磁铁相连，根据单片机的指令模拟点击操作，启动被测设备。本发明能够有效而准确的针对敏感设备进行自动测试，为行业以及用户制定设备电压暂降耐受特性测试标准、有针对性地采取治理和预防措施打下实验基础。

公开(公告)号：CN215866963U

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202122386412.1

申请日：2021-09-29

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 何英杰 ,  支文浩 ,  张义坤 ,  邱继浪 ,  邓钦瑞 ,  焦乾明 ,  刘进军

IPC: G01R31/12

Abstract: 本实用新型公开一种敏感设备电压暂降耐受特性辅助自动测试装置，包括上位机、可编程电源、数据采集卡、单片机、继电器以及推拉式电磁铁，其中上位机通过LAN口与可编程电源连接，负责控制可编程电源的输出；可编程电源输出端接在被测设备上，负责向被测设备提供测试电压；上位机通过RS232接口与单片机相连，向单片机发送控制指令，单片机与继电器相连，单片机根据上位机的指令控制继电器。继电器与推拉式电磁铁相连，根据单片机的指令模拟点击操作，启动被测设备。本实用新型能够有效而准确的针对敏感设备进行自动测试，为行业以及用户制定设备电压暂降耐受特性测试标准、有针对性地采取治理和预防措施打下实验基础。