一种基于可电调吸波超表面的快速空口测试方法

    公开(公告)号:CN112462168B

    公开(公告)日:2022-03-22

    申请号:CN202011225552.4

    申请日:2020-11-05

    Abstract: 一种基于可电调吸波超表面的快速空口测试方法,包括以下步骤;步骤1:在混响室的一个或多个腔壁上部署可电调吸波超表面,所述的可电调吸波超表面是一种电磁超表面,有全反射和全吸收两种工作模式;步骤2:将测试所需的参考天线和多个待测设备全部放入混响室,通过程序控制步骤1中可电调吸波超表面工作于全反射模式,完成参考测试;步骤3:通过程序切换步骤2中可电调吸波超表面工作于全吸收模式,经过一定时间后,再切换回全反射模式,完成指定的待测设备的测试;步骤4:重复步骤3,直到完成所有待测设备的测试。本发明在不影响测量不确定度的前提下,能够显著缩短空口测试的总时间,快速完成多个待测设备的空口测试。

    一种毫米波天线阵上半球总辐射功率测试方法

    公开(公告)号:CN115549816B

    公开(公告)日:2025-02-14

    申请号:CN202211211911.X

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本发明属于多探头暗室技术领域,涉及一种毫米波天线阵上半球总辐射功率测试方法,将待测天线阵放置在转台上,使待测天线阵处于多探头竖直环的中心位置,控制待测天线阵在整个测试过程中以设定参数发射信号;控制转台以设定采样间隔旋转,两竖直环上位于上半部分的所有探头依次采集该探头位置上两个极化方向的电场;直到转台旋转度数达到90°,得到上半球各采样点测试数据;将上半球各采样点测试数据计算为对应的等效各向同性辐射功率,作为原始数据;采用自然邻点插值法以设定采样间隔的一半作为插值间隔对原始数据进行插值,得到待测天线阵上半球总辐射功率值。解决了现有测试方法存在的成本高的问题。

    自动空口测试系统、通道辐射功率及灵敏度快速测试方法

    公开(公告)号:CN116095724A

    公开(公告)日:2023-05-09

    申请号:CN202310058143.7

    申请日:2023-01-17

    Abstract: 本发明属于OTA测试技术领域,涉及一种自动空口测试系统,包括依次连接的射频屏蔽箱、射频通道切换设备及综合测试仪;射频屏蔽箱内侧壁设有USB接口、射频接口及电源接口;射频屏蔽箱内放置有N个探头天线,探头天线通过射频线缆与射频接口相连,待测无线终端放置在射频屏蔽箱内任意位置;待测无线终端、射频屏蔽箱、射频通道切换设备、综合测试仪分别与上位机连接;探头天线和待测无线终端通过空口连接实现双向通信。还公开了基于其的通道辐射功率及灵敏度快速空口测试方法,测试中无需改变无线终端的放置位置与朝向,仅需一次任意角度测试即可得到较为准确的测试结果。

    一种空口测试系统及方法

    公开(公告)号:CN115102635B

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN202210669499.X

    申请日:2022-06-14

    Abstract: 本发明属于空口测试技术领域,涉及一种空口测试系统,包括转台和竖直环,转台下方设有支撑结构,竖直环贯穿在支撑结构中;竖直环上非均匀布设有若干个探头;探头连接有数据处理器,数据处理器内置有总辐射功率计算法。还公开了测试方法,通过控制器控制转台以设定的方位角间隔旋转,竖直环上的探头依次采集该探头位置上两个极化方向的电场;直到转台旋转度数达到180°;在数据处理器中,根据已采样点数据进行插值,将竖直环底端缺失探头位置的插值结果记录为相应的采样值;将所有采样数据输入数据处理器中,计算得到待测设备总辐射功率值。在采样点数目一致的情况下,本发明能得到更高的测试精度,不需要增加任何测试成本。

    一种具备温控系统的混响室测试系统和测试方法

    公开(公告)号:CN112881825A

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN202110033143.2

    申请日:2021-01-11

    Abstract: 本发明公开了一种具备温控系统的混响室测试系统和测试方法,该测试系统包括:混响室,搅拌器组件,发射天线,待测设备,保温室,温控系统,进风道以及回风道;所述搅拌器与待测设备置于混响室中,所述搅拌器通过机械转动改变电磁场的边界条件;所述待测设备位于混响室的工作区,该工作区置于一个含有六面保温透析板的保温室中;所述保温室通过进风道和回风道与温控系统连接,整体采用步入式温箱结构,温控机组通过管道与混响室内部的保温室连接,实现混响室内部局部体积区域形成高低温环境。本发明能够通过温控系统,有效的模拟实际应用中的高低温差环境,实现极限温度下待测设备的测量。

    一种空口测试系统及方法

    公开(公告)号:CN115102635A

    公开(公告)日:2022-09-23

    申请号:CN202210669499.X

    申请日:2022-06-14

    Abstract: 本发明属于空口测试技术领域,涉及一种空口测试系统,包括转台和竖直环,转台下方设有支撑结构,竖直环贯穿在支撑结构中;竖直环上非均匀布设有若干个探头;探头连接有数据处理器,数据处理器内置有总辐射功率计算法。还公开了测试方法,通过控制器控制转台以设定的方位角间隔旋转,竖直环上的探头依次采集该探头位置上两个极化方向的电场;直到转台旋转度数达到180°;在数据处理器中,根据已采样点数据进行插值,将竖直环底端缺失探头位置的插值结果记录为相应的采样值;将所有采样数据输入数据处理器中,计算得到待测设备总辐射功率值。在采样点数目一致的情况下,本发明能得到更高的测试精度,不需要增加任何测试成本。

    一种基于混合屏蔽室的抗干扰天线方向图测量方法

    公开(公告)号:CN113804985B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN202111001299.9

    申请日:2021-08-30

    Abstract: 一种基于混合屏蔽室的抗干扰天线方向图测量方法,选取两个天线,一个待测天线,另一个校准天线,在标准暗室环境下测量校准天线的辐射方向图并求得校准天线的传输系数;在混合屏蔽室环境下,先将待测天线放置在室内的转台上,控制待测天线进行旋转,得到待测天线旋转矩阵;再将校准天线放置在转台上进行旋转,得到校准天线的旋转矩阵;计算待测天线和校准天线的相关性系数矩阵,以及待测天线和校准天线在不同转台位置时的旋转方向图和球面波系数矩阵;利用球面波系数矩阵和相关性系数矩阵重构出待测天线的方向图,同时利用校准天线传输系数来补偿待测天线方向图,完成待测天线重构和补偿工作。本发明改善混合测试环境下的待测天线辐射方向图。

    一种基于混合屏蔽室的抗干扰天线方向图测量方法

    公开(公告)号:CN113804985A

    公开(公告)日:2021-12-17

    申请号:CN202111001299.9

    申请日:2021-08-30

    Abstract: 一种基于混合屏蔽室的抗干扰天线方向图测量方法,选取两个天线,一个待测天线,另一个校准天线,在标准暗室环境下测量校准天线的辐射方向图并求得校准天线的传输系数;在混合屏蔽室环境下,先将待测天线放置在室内的转台上,控制待测天线进行旋转,得到待测天线旋转矩阵;再将校准天线放置在转台上进行旋转,得到校准天线的旋转矩阵;计算待测天线和校准天线的相关性系数矩阵,以及待测天线和校准天线在不同转台位置时的旋转方向图和球面波系数矩阵;利用球面波系数矩阵和相关性系数矩阵重构出待测天线的方向图,同时利用校准天线传输系数来补偿待测天线方向图,完成待测天线重构和补偿工作。本发明改善混合测试环境下的待测天线辐射方向图。

    一种基于可电调吸波超表面的快速空口测试方法

    公开(公告)号:CN112462168A

    公开(公告)日:2021-03-09

    申请号:CN202011225552.4

    申请日:2020-11-05

    Abstract: 一种基于可电调吸波超表面的快速空口测试方法,包括以下步骤;步骤1:在混响室的一个或多个腔壁上部署可电调吸波超表面,所述的可电调吸波超表面是一种电磁超表面,有全反射和全吸收两种工作模式;步骤2:将测试所需的参考天线和多个待测设备全部放入混响室,通过程序控制步骤1中可电调吸波超表面工作于全反射模式,完成参考测试;步骤3:通过程序切换步骤2中可电调吸波超表面工作于全吸收模式,经过一定时间后,再切换回全反射模式,完成指定的待测设备的测试;步骤4:重复步骤3,直到完成所有待测设备的测试。本发明在不影响测量不确定度的前提下,能够显著缩短空口测试的总时间,快速完成多个待测设备的空口测试。

    一种毫米波天线阵上半球总辐射功率测试方法

    公开(公告)号:CN115549816A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211211911.X

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本发明属于多探头暗室技术领域,涉及一种毫米波天线阵上半球总辐射功率测试方法,将待测天线阵放置在转台上,使待测天线阵处于多探头竖直环的中心位置,控制待测天线阵在整个测试过程中以设定参数发射信号;控制转台以设定采样间隔旋转,两竖直环上位于上半部分的所有探头依次采集该探头位置上两个极化方向的电场;直到转台旋转度数达到90°,得到上半球各采样点测试数据;将上半球各采样点测试数据计算为对应的等效各向同性辐射功率,作为原始数据;采用自然邻点插值法以设定采样间隔的一半作为插值间隔对原始数据进行插值,得到待测天线阵上半球总辐射功率值。解决了现有测试方法存在的成本高的问题。

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