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公开(公告)号：CN114821280B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202210462752.4
申请日：2022-04-28
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种基于滑动窗口的SLAM局部实时重定位方法，通过维护一个固定大小的滑动窗口，使用Laplacian算子计算图像的归一化清晰度，在保证图像清晰度的前提下将通过关键帧筛选的图像送入滑动窗口中，并基于感知哈希算子融合灰度直方图计算对应图像的相似性描述算子。当视觉前端由于相机的运动模糊或镜头遮挡导致跟踪中断后，在现存的滑动窗口中选择与当前最新帧最相似的一帧作为重定位候选帧；通过再次匹配，将候选帧基于补充视觉约束实现局部实时重定位。通过该方法可以避免依赖于回环检测和校正模块的计算延迟，有效快速地解决相机在局部晃动或遮挡工况下的失去定位能力的问题，适用于运动状态不稳定的移动定位设备。
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公开(公告)号：CN118768943A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202411071799.3
申请日：2024-08-06
Applicant: 西安交通大学 , 广元市精锐机械有限公司
Abstract: 本发明公开了一种数控加工中心的切磨装置及其工作方法，涉及切磨装置技术领域，为解决现有的切磨装置通过设置的多种机构相配合对工件的六面进行加工，但切磨过程中对工件夹持的稳定性较差，且仅仅只能加工较小的工件，导致切磨装置使用存在局限性的问题，包括装置平台，装置平台的上端焊接设置有两个承载台座，两个承载台座之间设置有落刀口，落刀口与装置平台，落刀口的正上方设置有龙门框架，龙门框架与装置平台的上端焊接，龙门框架的上端设置有伸缩式液压缸；还包括：活动导向槽，其设置在所述承载台座的内部，且承载台座的一端设置有伺服电机，活动导向槽的内部滑动设置有底滑块，底滑块的上端焊接设置有活动夹座。
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公开(公告)号：CN114252452B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202111584827.8
申请日：2021-12-22
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种小型回转体外观缺陷和轮廓尺寸在线检测装置及方法，装置包括上、下料传送带、分度盘、二轴移动夹爪、四轴机械手、第一、第二、第三和第四图像采集单元；通过移动待检测零件到不同工位第一、第二、第三和第四图像采集单元采集待检测零件表面是否存在缺陷及缺陷类型，计算轮廓尺寸并判断是否合格；将待检测零件摆放到对应位置。通过训练深度学习模型，针对待检测零件上、下表面和侧面分别采集不同规格、不同缺陷类型的样本图像，通过局部选取ROI的方式，建立缺陷数据库，训练三个深度分类网络，分别用于上、下表面和侧面缺陷检测。本发明能够在工业现场实现在线缺陷检测和尺寸测量，速度快、精度高。
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公开(公告)号：CN117198913A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311165674.2
申请日：2023-09-11
Applicant: 西安交通大学
IPC: H01L21/66 , H01L21/68 , H01L21/677 , G01N21/95 , G01N21/01
Abstract: 本发明公开了一种图案晶圆缺陷检测及三维形貌测量装置与方法，通过白光干涉测头和精密气浮运动平台联动，对待检测图案晶圆进行分区域三维形貌测量；通过图像拼接算法将分区域三维形貌进行拼接，得到整幅晶圆的三维形貌测试结果；将晶圆的三维形貌与标准样品测试结果进行差分对比，使用阈值算法得到异常区域；将待测晶圆的三维形貌测试结果与实际尺寸晶圆对照映射，获得缺陷区域；原子力显微镜测头扫描异常区域和缺陷区域，进行三维形貌精确表征，获得缺陷三维形貌数据结果。将白光干涉测量与原子力显微测量的高分辨率结合，实现快速且准确的缺陷定位以及缺陷三维形貌分析。
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公开(公告)号：CN113341180B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202110567943.2
申请日：2021-05-24
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01Q60/18
Abstract: 本发明公开了一种基于近场无孔式探针的多模式测量方法及测量系统，第一、第二光纤和探针光纤通过第一光纤耦合器耦合连接，第一光纤与第一激光器连接，第二光纤与第一探测器连接；第三、第四光纤和第五光纤通过第二光纤耦合器耦合连接，第三光纤与第二激光器连接，第四光纤第二探测器连接，第五光纤与聚焦透镜组连接；第一光纤输出的光只能进入探针光纤，探针光纤输出的光只能进入第二光纤；第三光纤输出的光只能进入第五光纤，第五光纤输出的光只能进入第四光纤；探针光纤的探针针尖的轴线与聚焦透镜组的轴线同轴。本发明能够实现多种不同的测量模式，测量系统使用光纤作为光传播的载体，让整个光路十分灵活，便于测量过程中的光路调试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113341180A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110567943.2
申请日：2021-05-24
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01Q60/18
Abstract: 本发明公开了一种基于近场无孔式探针的多模式测量方法及测量系统，第一、第二光纤和探针光纤通过第一光纤耦合器耦合连接，第一光纤与第一激光器连接，第二光纤与第一探测器连接；第三、第四光纤和第五光纤通过第二光纤耦合器耦合连接，第三光纤与第二激光器连接，第四光纤第二探测器连接，第五光纤与聚焦透镜组连接；第一光纤输出的光只能进入探针光纤，探针光纤输出的光只能进入第二光纤；第三光纤输出的光只能进入第五光纤，第五光纤输出的光只能进入第四光纤；探针光纤的探针针尖的轴线与聚焦透镜组的轴线同轴。本发明能够实现多种不同的测量模式，测量系统使用光纤作为光传播的载体，让整个光路十分灵活，便于测量过程中的光路调试。
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公开(公告)号：CN107388982A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710471144.9
申请日：2017-06-20
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种便携式纳米加工在线测量装置及测量方法，包括光学测头和电控模块，光学测头通过光学测头底板与电控模块固定；工作时，可调谐红外激光谐振腔与稳压激光二极管发出的光由光纤连接到光纤传输模块，光纤传输模块将两路激光耦合并传送至光纤准直器，光纤准直器将光投射到闪耀光栅上，闪耀光栅的零级衍射光投射到参考臂反射镜并原路返回，一级衍射光经准直透镜投射到被测物表面并原路返回；两路光干涉并返回到光纤准直器，由光纤传输模块检测干涉信号；电控模块包括供电单元、信号采集处理以及系统闭环控制单元，实现光学侧头供电、将干涉信号传送给计算机进行数据处理及将系统信号偏差传送给压电陶瓷供电单元稳定系统工作点的功能。
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公开(公告)号：CN107014312A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710286051.9
申请日：2017-04-25
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01B11/25
CPC classification number: G01B11/2504 , G01B11/2518
Abstract: 本发明公开了一种振镜式线激光扫描三维测量系统的整体标定方法，首先选择两个有效焦距为f1和f2的镜头，利用摄像机对平面靶标进行拍摄并提取特征点坐标，根据变焦距法计算出图像的主点坐标；然后以焦距f1的镜头作为系统的镜头，对其获得的平面靶标上的特征点坐标，根据Tsai两步法，标定出摄像机的内参数与外参数；其次通过改变振镜控制电压与驱动一维平移台移动，获取不同深度方向与不同光平面下的线激光条纹，通过平面拟合并求交线等运算得到靶标坐标系与世界坐标系的转化关系；最后把系统模型下的坐标均统一到图像像素坐标系与世界坐标系下，完成整个系统的标定。该方法具有标定过程简单，标定精度高、标定速度快等优点。
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公开(公告)号：CN119927674A
公开(公告)日：2025-05-06
申请号：CN202510447472.X
申请日：2025-04-10
Applicant: 西安交通大学 , 广元市精锐机械有限公司
Abstract: 本发明属于机床零部件加工夹持技术领域，特别是一种精密零部件机械加工用夹持工装，包括固定机构，用于固定夹持机构和驱动机构；夹持机构，包括夹头、连接杆、齿轮盘和U形架，U形架沿固定机构端部环向布置，每个U形架上连接齿轮盘，齿轮盘上连接端部带有夹头的连接杆；齿轮盘沿U形架转动，通过连接杆带动夹头进行角度转动，对零部件进行夹持；驱动机构，包括驱动套和驱动杆，驱动套中开设有多个一端呈开口的气密槽，驱动杆一端滑动连接于气密槽中的活塞头，另一端与齿轮盘啮合；通过向气密槽中充放空气，带动活塞头在气密槽中移动，实现夹头对零部件进行夹持。该夹持工装可以实现不同形状零部件的高效夹持，夹持效果好的同时可以有效的降低劳动强度，对零部件的夹持保护效果好。
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公开(公告)号：CN119781100A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411991473.2
申请日：2024-12-31
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明提供一种非对称棱锥光纤探针及方法及装置，其中一种非对称棱锥光纤探针，包括：非对称棱锥光纤芯层，非对称棱锥光纤芯层表面覆盖有金属薄膜层；非对称棱锥光纤芯层的棱锥棱数为奇数时，包含任意棱锥几何形状；非对称棱锥光纤芯层的棱锥棱数为偶数时，非对称棱锥光纤芯层的几何形状不关于空间任意一轴线轴对称且不关于任意一轴线中心对称。本发明可以在线偏振激光的入射下在探针的非对称棱锥表面激发表面等离激元并传播至探针尖端形成聚焦光场，实现高分辨率高信号强度的近场光学测量。
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