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公开(公告)号：CN101178369A
公开(公告)日：2008-05-14
申请号：CN200710018919.3
申请日：2007-10-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 一种工业射线检测底片数字化装置，包括外壳以及设置在外壳内的上基板和下基板，在上基板的左端安装条形光纤冷光源，右端安装图像采集装置，中间安装送片装置，送片机构右侧安装遮光装置。所述的条形光纤冷光源、送片装置、遮光装置通过控制卡与计算机相连，图像采集装置通过图像采集卡与计算机相连，同时与控制卡相连。本发明采用线阵CCD采集图像，解决了面阵CCD失真大以及点扫描方式速度慢的问题；采用条形光纤冷光源作为背景光，解决了普通光源发热严重、光强不足以及不均匀等问题；采用送片装置夹持底片运动实现了对底片的逐行扫描，通过送片装置上的圆光栅传感器信号对图像采集卡进行外同步控制，保证了线阵CCD的副扫描精度。
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公开(公告)号：CN101201329B
公开(公告)日：2011-06-22
申请号：CN200710018884.3
申请日：2007-10-16
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法，首先，根据射线检测以及数字成像建立底片图像灰度与衰减能量场分布之间的关系，从射线底片图像中获取缺陷边界；然后，基于射线衰减能量场对所述缺陷提取方法得到的缺陷进行类型识别；最后，根据能量衰减原理，对所述缺陷类型识别方法得到的缺陷进行体积测量。由于本发明利用射线能量穿透不同材质所表现的衰减特征，建立射线能量衰减特征与底片图像灰度的对应规律，利用计算机对灰度图像的解析度远远超过人眼的优势，从而实现产品零部件缺陷的自动提取、识别以及三维体积测量。
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公开(公告)号：CN101178369B
公开(公告)日：2010-05-19
申请号：CN200710018919.3
申请日：2007-10-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 一种工业射线检测底片数字化装置，包括外壳以及设置在外壳内的上基板和下基板，在上基板的左端安装条形光纤冷光源，右端安装图像采集装置，中间安装送片装置，送片机构右侧安装遮光装置。所述的条形光纤冷光源、送片装置、遮光装置通过控制卡与计算机相连，图像采集装置通过图像采集卡与计算机相连，同时与控制卡相连。本发明采用线阵CCD采集图像，解决了面阵CCD失真大以及点扫描方式速度慢的问题；采用条形光纤冷光源作为背景光，解决了普通光源发热严重、光强不足以及不均匀等问题；采用送片装置夹持底片运动实现了对底片的逐行扫描，通过送片装置上的圆光栅传感器信号对图像采集卡进行外同步控制，保证了线阵CCD的副扫描精度。
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公开(公告)号：CN101201329A
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：CN200710018884.3
申请日：2007-10-16
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 基于射线衰减能量场的无损检测缺陷提取、识别方法，首先，根据射线检测以及数字成像建立底片图像灰度与衰减能量场分布之间的关系，从射线底片图像中获取缺陷边界；然后，基于射线衰减能量场对所述缺陷提取方法得到的缺陷进行类型识别；最后，根据能量衰减原理，对所述缺陷类型识别方法得到的缺陷进行体积测量。由于本发明利用射线能量穿透不同材质所表现的衰减特征，建立射线能量衰减特征与底片图像灰度的对应规律，利用计算机对灰度图像的解析度远远超过人眼的优势，从而实现产品零部件缺陷的自动提取、识别以及三维体积测量。
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