公开(公告)号：CN115372249A

公开(公告)日：2022-11-22

申请号：CN202210778236.2

申请日：2022-06-29

Applicant: 西南科技大学

Inventor： 郭辉辉 ,  李雨航 ,  邬祖全 ,  刘婷婷 ,  高杨

IPC: G01N19/08

Abstract: 本申请实施例公开了一种导电纳米聚合物薄膜内部损伤检测单元及装置，可有效提高损伤分辨率和检测效率。本申请包括：压电片、多个电极对、FPC排线接口；所述导电纳米聚合物薄膜内部损伤检测单元贴装在待测导电纳米聚合物的表面；当检测待测导电纳米聚合物时，向所述压电片施放电压激励信号，以使得所述压电片发生机械振动，产生板波信号；所述多个电极对分别接收携带损伤信息的所述板波信号；通过所述FPC排线接口完成对信号的施放与接收。

公开(公告)号：CN115372249B

公开(公告)日：2024-11-22

申请号：CN202210778236.2

申请日：2022-06-29

Applicant: 西南科技大学

Inventor： 郭辉辉 ,  李雨航 ,  邬祖全 ,  刘婷婷 ,  高杨

IPC: G01N19/08

Abstract: 本申请实施例公开了一种导电纳米聚合物薄膜内部损伤检测单元及装置，可有效提高损伤分辨率和检测效率。本申请包括：压电片、多个电极对、FPC排线接口；所述导电纳米聚合物薄膜内部损伤检测单元贴装在待测导电纳米聚合物的表面；当检测待测导电纳米聚合物时，向所述压电片施放电压激励信号，以使得所述压电片发生机械振动，产生板波信号；所述多个电极对分别接收携带损伤信息的所述板波信号；通过所述FPC排线接口完成对信号的施放与接收。