公开(公告)号：CN113918880B

公开(公告)日：2023-03-10

申请号：CN202111179754.4

申请日：2021-10-11

Applicant: 西南交通大学

Inventor： 廖成 ,  柏果 ,  程有峰 ,  张胤

IPC: G06F17/16 ,  G06F30/20 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明涉及一种基于矩阵束法的阵列天线受损单元诊断方法，包括步骤：S1、获得阵列天线的原始激励和天线单元位置分布，并采样；S2、利用采样后的方向图数据建立汉克尔矩阵，并对其进行奇异值分解；S3、选取奇异值进行低秩近似汉克尔矩阵，并求解得到广义特征值；S4、根据受损单元位置分布，求得受损单元的原始激励；S5、筛除步骤S4中激励幅度较小的单元，再修正受损单元位置，计算修正后的受损单元位置的广义特征值；S6、重复步骤S4，得到修正后的受损单元位置与相应的单元激励。本发明提供的阵列天线受损单元诊断方法能快速地对阵列的受损单元位置与激励进行诊断，并对噪声的敏感性极低，能够在较强的噪声干扰下完成阵列的诊断。

公开(公告)号：CN113918880A

公开(公告)日：2022-01-11

申请号：CN202111179754.4

申请日：2021-10-11

Applicant: 西南交通大学

Inventor： 廖成 ,  柏果 ,  程有峰 ,  张胤

IPC: G06F17/16 ,  G06F30/20 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明涉及一种基于矩阵束法的阵列天线受损单元诊断方法，包括步骤：S1、获得阵列天线的原始激励和天线单元位置分布，并采样；S2、利用采样后的方向图数据建立汉克尔矩阵，并对其进行奇异值分解；S3、选取奇异值进行低秩近似汉克尔矩阵，并求解得到广义特征值；S4、根据受损单元位置分布，求得受损单元的原始激励；S5、筛除步骤S4中激励幅度较小的单元，再修正受损单元位置，计算修正后的受损单元位置的广义特征值；S6、重复步骤S4，得到修正后的受损单元位置与相应的单元激励。本发明提供的阵列天线受损单元诊断方法能快速地对阵列的受损单元位置与激励进行诊断，并对噪声的敏感性极低，能够在较强的噪声干扰下完成阵列的诊断。