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公开(公告)号：CN111161930A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN202010005589.X
申请日：2020-01-03
Applicant: 西北核技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种真空绝缘子及其制备方法，特别涉及一种具有复合结构的真空绝缘子及其制备方法，解决了现有单独使用绝缘子表面45°倾角结构或绝缘子表面微槽构筑技术时，真空沿面闪络电压提升幅度有限，以及单独使用绝缘子表面45°倾角结构时，难以满足绝缘子小型化的需求和绝缘子耐压稳定性较低的问题。该绝缘子包括绝缘子本体；其特殊之处在于：绝缘子本体用于与阴极连接的一端为圆柱形，用于与阳极连接的另一端为圆台形，且圆台形大端底面外圆与圆柱形底面外圆重合；在圆柱形的侧面上设有多个与圆柱形同轴的环形微槽；多个环形微槽沿圆柱形轴线方向呈周期性阵列排布，且该阵列延伸至圆台形大端底面位置；圆台形母线与圆台形大端底面的夹角为30°～60°。
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公开(公告)号：CN110988628A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911250737.8
申请日：2019-12-09
Applicant: 西北核技术研究院
Abstract: 本发明具体涉及一种利用正电子湮没技术检测介电材料绝缘性能的方法，现有介电材料的绝缘性能检测方法存在试验装置庞大，耗费成本高以及现有方法只能得到材料表层陷阱信息、不能得到体态缺陷的问题。该方法如下：1、加工待测样品；2、形成检测组件；3、将检测组件固定放置在正电子寿命谱测量仪的两个探测器中间；4、正电子寿命谱测量仪收集到的正电子湮没事件数到达设定数量时，该待测样品测量完毕；5、正电子寿命谱测量仪分析得到正电子在介电材料中湮没的寿命数据，并计算得到正电子在介电材料中湮没的平均寿命；6、获取介电材料的缺陷信息；7、获取介电材料的绝缘性能。
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公开(公告)号：CN111161930B
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202010005589.X
申请日：2020-01-03
Applicant: 西北核技术研究院
Abstract: 本发明涉及一种真空绝缘子及其制备方法，特别涉及一种具有复合结构的真空绝缘子及其制备方法，解决了现有单独使用绝缘子表面45°倾角结构或绝缘子表面微槽构筑技术时，真空沿面闪络电压提升幅度有限，以及单独使用绝缘子表面45°倾角结构时，难以满足绝缘子小型化的需求和绝缘子耐压稳定性较低的问题。该绝缘子包括绝缘子本体；其特殊之处在于：绝缘子本体用于与阴极连接的一端为圆柱形，用于与阳极连接的另一端为圆台形，且圆台形大端底面外圆与圆柱形底面外圆重合；在圆柱形的侧面上设有多个与圆柱形同轴的环形微槽；多个环形微槽沿圆柱形轴线方向呈周期性阵列排布，且该阵列延伸至圆台形大端底面位置；圆台形母线与圆台形大端底面的夹角为30°～60°。
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