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发明公开
用于检测LTCC材料介电常数的新型谐振结构及应用审中-实审

公开(公告)号：CN116298534A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202211653293.4

申请日：2022-12-22

Applicant: 西北工业大学宁波研究院

Inventor： 杨梦红 , 刘振国 , 白浩 , 陈定辉

IPC: G01R27/26

Abstract: 本发明涉及一种用于检测LTCC材料介电常数的新型谐振结构，由基板、接地层和电路层组成，电路层包括微带线、耦合带和六边形谐振环；本发明还包括新型谐振结构在对LTCC材料样品进行介电常数测试中的应用。本发明的有益效果是：选用品质因数的较高的六边形谐振环结构，六边形谐振环结构两端通过具有一定角度的耦合带组，具备较高的耦合强度；相比方形谐振环，六边形谐振环的灵敏度更高，品质因数提高了大约30%；相比圆形和方形的谐振环，六边形谐振环的回波损耗和插入损耗最小，曲线特性相较于圆形和方形两种结构都更有优势；设有与耦合带组相连接的微带线，确保了耦合带组高灵敏度、高精度的特点；使用环境要求低且对样本制备要求低。

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