用于检测LTCC材料介电常数的新型谐振结构及应用

    公开(公告)号:CN116298534A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202211653293.4

    申请日:2022-12-22

    Abstract: 本发明涉及一种用于检测LTCC材料介电常数的新型谐振结构,由基板、接地层和电路层组成,电路层包括微带线、耦合带和六边形谐振环;本发明还包括新型谐振结构在对LTCC材料样品进行介电常数测试中的应用。本发明的有益效果是:选用品质因数的较高的六边形谐振环结构,六边形谐振环结构两端通过具有一定角度的耦合带组,具备较高的耦合强度;相比方形谐振环,六边形谐振环的灵敏度更高,品质因数提高了大约30%;相比圆形和方形的谐振环,六边形谐振环的回波损耗和插入损耗最小,曲线特性相较于圆形和方形两种结构都更有优势;设有与耦合带组相连接的微带线,确保了耦合带组高灵敏度、高精度的特点;使用环境要求低且对样本制备要求低。

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