一种检测LTCC材料介电常数的谐振结构的尺寸修正方法

    公开(公告)号:CN116338326A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202310333770.7

    申请日:2023-03-24

    Abstract: 本发明涉及一种检测LTCC材料介电常数的谐振结构的尺寸修正方法,包括步骤:设计平面谐振器结构,设定初始谐振频率;采用HFSS进行仿真,通过仿真得到实际谐振频率;通过仿真得到与参数化扫描的尺寸范围中各尺寸相对应的实际谐振频率,找出与初始谐振频率一致的实际谐振频率;计算修正系数;采用修正系数来修正平面谐振器结构的尺寸。本发明的有益效果是:本发明的谐振结构尺寸修正方法,通过多次仿真优化,采用不同谐振频率的谐振环图形加以验证,得出了不同谐振结构尺寸的修正系数,能够大大缩短谐振结构的尺寸优化过程,使设计出的谐振结构的实际谐振频率更加逼近谐振频率,可以提高设计效率。

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