一种测试设备性能的方法与系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117251348A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202311142963.0

    申请日:2023-09-06

    Abstract: 本发明提供了一种测试设备性能的方法与系统,属于测试技术领域,包括:获取用于描述测试数据的ATML文件,提取ATML文件中的信号参数组集合、被测对象端口组集合、信号方向、路径映射组、测试仪器能力集合;根据信号类型、信号方向、信号属性为传递给测试仪器的测试信号在测试仪器能力集合中匹配对应的测试仪器能力;利用路径映射组将测试仪器的能力端口映射到资源端口,将测试仪器的资源端口映射到物理端口,在物理端口和被测对象端口组集合中的被测对象端口之间建立路径搜索;在测试设备时,利用计算机调用存储的测试仪器能力匹配、路径搜索的结果,控制测试系统对设备进行测试。该方法系统能够供不同测试需求下测试仪器重复使用。

Patent Agency Ranking