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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106569191A
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201610901056.3
申请日：2016-10-17
Applicant: 西北工业大学
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明提供了一种利用高分辨率成像获取目标RCS的方法，首先采用滤波‑逆投影算法对目标近场回波数据进行成像处理，然后通过CLEAN算法由强到弱依次从二维像中提取出散射中心，最后将各散射中心作为离散的点散射源进行矢量合成重建目标的散射场，从而计算得到目标的RCS。由于滤波‑逆投影算法的成像精度很高，能够准确的呈现目标各散射中心的位置信息和强度值；由于重建的散射场是由通过CLEAN算法提取的有限个散射中心产生的，能够充分还原目标的散射特性，且不会引入目标外的环境噪声。由于对散射中心而言不存在远场测试距离的问题，故矢量合成出的散射特性即为目标的远场散射特性，确保了目标RCS的计算精度。
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公开(公告)号：CN105572652A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201610156723.X
申请日：2016-03-18
Applicant: 西北工业大学
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明提出一种基于近场完备双站信息的近场散射外推方法。该方法首先在获取目标全角域的近场双站散射信息后，对各角度下采集的近场散射数据进行外推处理，然后根据互易定理，将外推后的数据等效为“远场发射、近场接收”数据。接下来对该数据再进行一次外推，使其满足“远场发射、远场接收”的条件，最后取出对角线上的元素获得各角度的远场RCS。
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公开(公告)号：CN106526562A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610903006.9
申请日：2016-10-17
Applicant: 西北工业大学
IPC: G01S7/41
Abstract: 本发明提供了一种基于天线方向图修正计算目标RCS的方法，以基于成像的近远场变换方法为基础，借用微波成像的思想，建立起目标的二维像与近场回波、目标散射特性的关系，无需在处理过程中成像，能够实现近场数据的准确外推。由于在计算单站近场回波回波散射时考虑了天线方向图的影响，因而对目标近场数据的表述更为准确；使用近似天线方向图函数代替真实天线方向图函数，且在外推过程中对天线方向图的影响给予修正，简化了构建方向图函数的复杂度，并减小了计算目标RCS的误差。
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公开(公告)号：CN106526562B
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201610903006.9
申请日：2016-10-17
Applicant: 西北工业大学
IPC: G01S7/41
Abstract: 本发明提供了一种基于天线方向图修正计算目标RCS的方法，以基于成像的近远场变换方法为基础，借用微波成像的思想，建立起目标的二维像与近场回波、目标散射特性的关系，无需在处理过程中成像，能够实现近场数据的准确外推。由于在计算单站近场回波回波散射时考虑了天线方向图的影响，因而对目标近场数据的表述更为准确；使用近似天线方向图函数代替真实天线方向图函数，且在外推过程中对天线方向图的影响给予修正，简化了构建方向图函数的复杂度，并减小了计算目标RCS的误差。
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