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公开(公告)号：CN120003186A
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202510224616.5
申请日：2025-02-27
Applicant: 蚌埠学院
Abstract: 本发明提供一种基于磁栅位移测定的微调式数显圆规，涉及绘图仪器技术领域，本发明通过磁栅测量机构，结合磁栅尺和读数头，实现了高精度位移测量。读数头在滑动槽内的运动能够生成高质量的差分信号，使得位移信息的捕捉更加准确，有效消除了传统机械结构中的摩擦和磨损问题，确保了长期使用下的稳定性和可靠性。其次，该方案的微调机构通过双层齿轮设计，能够实现细微的角度调整，将旋转运动转化为精准的线性位移，使用户在进行微调时更加灵活和精确，此外，电路板模块与显示模块的结合，使得位移信息能实时显示，用户可以直观地监控调整过程，提升了操作的便利性和直观性。
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