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公开(公告)号：CN110622055A
公开(公告)日：2019-12-27
申请号：CN201880032420.4
申请日：2018-05-16
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在相衬-透射照明中和/或在荧光-垂直照明中检查样本的显微镜(10)和一种相应的显微镜照明方法，该显微镜具有相衬-透射照明机构(11)和荧光-垂直照明机构(12)，其中，所述相衬-透射照明机构(11)具有透射照明源(101)以及具有带环状光阑(102、201)的透射照明光学器件(103)，其中，所述环状光阑(102、201)具有不透光的内部的光阑区域(203)，该光阑区域被至少部分地透光的环形的区域(202)包围，其中，所述荧光-垂直照明机构(12)具有垂直照明源(121)以及垂直照明光学器件(122)，其中，所述显微镜(10)具有带相环(106)的物镜(105)，其中，由所述荧光-垂直照明机构(12)产生的荧光-垂直照明光路以其横截面在穿过所述显微镜(10)的样品平面(104)之后位于所述相衬-透射照明机构(11)的环状光阑(102、201)的内部的光阑区域(203)之内。
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公开(公告)号：CN115793223A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211639311.3
申请日：2018-05-16
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在相衬‑透射照明中和/或在荧光‑垂直照明中检查样本的显微镜(10)和一种相应的显微镜照明方法，该显微镜具有相衬‑透射照明机构(11)和荧光‑垂直照明机构(12)，其中，所述相衬‑透射照明机构(11)具有透射照明源(101)以及具有带环状光阑(102、201)的透射照明光学器件(103)，其中，所述环状光阑(102、201)具有不透光的内部的光阑区域(203)，该光阑区域被至少部分地透光的环形的区域(202)包围，其中，所述荧光‑垂直照明机构(12)具有垂直照明源(121)以及垂直照明光学器件(122)，其中，所述显微镜(10)具有带相环(106)的物镜(105)，其中，由所述荧光‑垂直照明机构(12)产生的荧光‑垂直照明光路以其横截面在穿过所述显微镜(10)的样品平面(104)之后位于所述相衬‑透射照明机构(11)的环状光阑(102、201)的内部的光阑区域(203)之内。
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公开(公告)号：CN116149038A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211463492.9
申请日：2022-11-22
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
Abstract: 一种用于对包括至少两种不同荧光团的样品(102)进行成像的荧光显微镜系统(100)包括照明系统(104)和光学检测系统(112)，照明系统(104)被配置成发射用于激发荧光团的照明光，光学检测系统(112)被配置成基于由受激荧光团发射的荧光生成样品(102)的图像。荧光显微镜系统(100)还包括控制单元(124)，控制单元被配置成基于不同荧光团中每一种的至少一种特性并基于光学检测系统(112)的至少一个参数和/或照明系统(104)的至少一个参数确定是以并行成像模式还是以顺序成像模式对样品(102)成像。在并行成像模式中，不同荧光团同时成像。在顺序成像模式中，不同荧光团被分成第一组和至少一个第二组，并且第一组荧光团和第二组荧光团被相继成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114008613A
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN202080045519.5
申请日：2020-06-19
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
Abstract: 一种用于增强输入相位分布(I(xi))的装置(1)和方法，其中装置(1)和方法被配置为检索输入相位分布；计算基线估计(f(xi))作为输入相位分布中的基线(I2(xi))的估计；并且其中所述装置和方法被进一步配置为基于基线估计和输入相位分布获得输出相位分布(O(xi))。
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公开(公告)号：CN112578549A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202011023923.0
申请日：2020-09-25
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
IPC: G02B21/36
Abstract: 一种用于显微镜的成像设备，包括：光学成像系统，被配置为在至少两个不同的聚焦状态下形成对象的至少两个光学图像；以及处理器，被配置为处理来自至少两个光学图像的图像信息以获得相位信息，所述相位信息是被成像的所述对象的特性。光学成像系统包括图像传感器模块，图像传感器模块具有分别与至少两个不同的聚焦状态相关联的至少两个图像传感器，所述至少两个图像传感器被配置为同时检测至少两个光学图像以生成图像信息。图像传感器模块包括可由处理器控制的可调节孔径元件。
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公开(公告)号：CN116348800A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202080104202.4
申请日：2020-08-05
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
IPC: G02B21/16
Abstract: 本发明涉及用于自动地确定至少两个光源(120k)的待设定的照明亮度(Pk)的方法，至少两个光源用于分别激发在荧光显微镜(100)中待成像的样品(110)中的至少一个荧光团(130j)，其中，至少两个光源(120k)中的每一个关于其照明亮度(Pk)单独地可控制，并且至少两个探测器(140i)分别探测显微成像的样品(110)的图像强度(Ii)，其中，自动地确定至少两个光源(120k)的待设定的照明亮度(Pk)，从而达到每荧光团(130j)的信噪比的预定的额定值，其中，为了确定至少两个光源(120k)的照明亮度(Pk)，考虑用于荧光团(130j)的不同发射光谱的探测器的串扰和/或用于光源(120k)的不同照明光谱的荧光团(130j)的交叉激发。本发明还涉及相应的荧光显微镜(100)。
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公开(公告)号：CN116223457A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211581542.3
申请日：2022-12-05
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
IPC: G01N21/64
Abstract: 提供了一种分析显微样品中多种荧光团的混合荧光响应的方法、荧光分析仪、荧光显微镜和计算机程序。该方法包括光谱解混和用于确定和验证其参考发射光谱的过程。该过程包括以下步骤：(a)为样品的图像的序列提供多个图像采集设置，图像等于或大于多种荧光团并且包括用于图像序列中的每一个的照明设置，(b)使用多个图像采集设置采集样品的图像序列，并将样品的图像序列中的每一个与对应的照明设置一起存储，(c)使用一个或多个参考发射光谱确定算法来确定待从样品的图像序列重构的荧光团的候选参考发射光谱，以及(d)有条件地使用所述候选参考发射光谱作为所述光谱解混中的参考发射光谱。
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公开(公告)号：CN110622055B
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN201880032420.4
申请日：2018-05-16
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在相衬‑透射照明中和/或在荧光‑垂直照明中检查样本的显微镜(10)和一种相应的显微镜照明方法，该显微镜具有相衬‑透射照明机构(11)和荧光‑垂直照明机构(12)，其中，所述相衬‑透射照明机构(11)具有透射照明源(101)以及具有带环状光阑(102、201)的透射照明光学器件(103)，其中，所述环状光阑(102、201)具有不透光的内部的光阑区域(203)，该光阑区域被至少部分地透光的环形的区域(202)包围，其中，所述荧光‑垂直照明机构(12)具有垂直照明源(121)以及垂直照明光学器件(122)，其中，所述显微镜(10)具有带相环(106)的物镜(105)，其中，由所述荧光‑垂直照明机构(12)产生的荧光‑垂直照明光路以其横截面在穿过所述显微镜(10)的样品平面(104)之后位于所述相衬‑透射照明机构(11)的环状光阑(102、201)的内部的光阑区域(203)之内。
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