Patent search ap:("苹果公司") AND inv:"S·A·明舒尔" Page 1

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发明公开
光学测量系统和方法审中-实审

公开(公告)号：CN119738371A

公开(公告)日：2025-04-01

申请号：CN202411360892.6

申请日：2024-09-27

Applicant: 苹果公司

Inventor： M·A·阿博尔 , A·A·迈尔斯 , M·A·泰雷尔 , V·黄 , S·史蒂文 , T·D·里德 , J·T·希尔 , S·A·明舒尔

IPC: G01N21/25 , G01N21/01

Abstract: 本公开涉及光学测量系统和方法。本公开涉及被配置为执行光谱测量的光学测量系统的实施方案。该光学测量系统被配置为提供用于将光引入样本中并且收集从该样本返回的光的紧凑型布置。减小光学测量系统的发射架构和/或收集架构的尺寸可使整个光学测量系统更小，从而提供将光学测量系统集成到各种形状因数中的灵活性。

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