公开(公告)号：CN103051390A

公开(公告)日：2013-04-17

申请号：CN201210367161.5

申请日：2012-09-28

Applicant: 苹果公司

Inventor： J·G·尼科尔 ,  M·帕斯科林尼 ,  申志一

IPC: H04B17/00

CPC classification number: H04W24/06 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明公开了用于减小路径损耗的方法和设备。测试站可以包括测试主机、测试单元和测试外壳。在产品测试期间，可以将至少具有第一天线和第二天线的被测设备（DUT）放置在测试外壳中。可以使用测试外壳内的测试天线来从测试单元向DUT传送射频测试信号。在测试第一天线的性能的第一时段中，可以将DUT定向在第一位置，使得第一天线与测试天线之间的路径损耗最小化。在测试第二天线的性能的第二时段中，可以将DUT定向在第二位置，使得第二天线与测试天线之间的路径损耗最小化。如果所收集的测试数据是令人满意的，则将DUT标记为通过的DUT。

公开(公告)号：CN103051390B

公开(公告)日：2015-08-19

申请号：CN201210367161.5

申请日：2012-09-28

Applicant: 苹果公司

Inventor： J·G·尼科尔 ,  M·帕斯科林尼 ,  申志一

IPC: H04B17/00

CPC classification number: H04W24/06 ,  G01R29/10

Abstract: 本发明公开了用于减小路径损耗的方法和设备。测试站可以包括测试主机、测试单元和测试外壳。在产品测试期间，可以将至少具有第一天线和第二天线的被测设备（DUT）放置在测试外壳中。可以使用测试外壳内的测试天线来从测试单元向DUT传送射频测试信号。在测试第一天线的性能的第一时段中，可以将DUT定向在第一位置，使得第一天线与测试天线之间的路径损耗最小化。在测试第二天线的性能的第二时段中，可以将DUT定向在第二位置，使得第二天线与测试天线之间的路径损耗最小化。如果所收集的测试数据是令人满意的，则将DUT标记为通过的DUT。