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公开(公告)号：CN102347083A
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN201110215419.5
申请日：2011-07-29
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: G11C29/44
CPC classification number: G11C29/44 , G11C29/024 , G11C29/025 , G11C2029/0411
Abstract: 本发明涉及通过内部操作验证进行安全的存储器存储。本发明提供用于检测地址线（例如字线、位线）存储器故障的结构和方法。在实施例中，该方法和结构包括：通过对来自存储器阵列内的已激活元件（例如字线）的内部生成的地址信号进行重新编码而生成地址签名。可以将重新生成的地址签名与所请求的存储器地址位置进行比较。如果重新生成的地址签名与存储器地址相等，在存储器阵列中没有错误，但是如果重新生成的地址签名与存储器地址不等，在存储器阵列中存在错误。相应地，重新编码地址签名提供闭环校验，即校验在存储器阵列中实际激活的字线和/或位线是所请求的正确字线和/或位线，也没有其他字线或位线被触发，并且所述字线和/或位线是连续的。
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公开(公告)号：CN102347083B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201110215419.5
申请日：2011-07-29
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: G11C29/44
CPC classification number: G11C29/44 , G11C29/024 , G11C29/025 , G11C2029/0411
Abstract: 本发明涉及通过内部操作验证进行安全的存储器存储。本发明提供用于检测地址线（例如字线、位线）存储器故障的结构和方法。在实施例中，该方法和结构包括：通过对来自存储器阵列内的已激活元件（例如字线）的内部生成的地址信号进行重新编码而生成地址签名。可以将重新生成的地址签名与所请求的存储器地址位置进行比较。如果重新生成的地址签名与存储器地址相等，在存储器阵列中没有错误，但是如果重新生成的地址签名与存储器地址不等，在存储器阵列中存在错误。相应地，重新编码地址签名提供闭环校验，即校验在存储器阵列中实际激活的字线和/或位线是所请求的正确字线和/或位线，也没有其他字线或位线被触发，并且所述字线和/或位线是连续的。
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公开(公告)号：CN103247338A
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201310050079.4
申请日：2013-02-08
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
CPC classification number: G11C11/1673 , G11C11/16 , G11C2213/78
Abstract: 本发明公开了存储单元、形成存储单元的方法以及操作存储单元的方法。提供一种存储单元，所述存储单元包括：第一二端存储元件；第二二端存储元件；控制器电路，其被配置成将所述第一二端存储元件编程至一个或多个状态并将所述第二二端存储元件编程至一个或多个状态，其中所述第一二端存储元件的状态和所述第二二端存储元件的状态相互依赖；以及测量电路，其被配置成测量与所述第一二端存储元件的状态相关联的第一二端存储元件信号和与所述第二二端存储元件的状态相关联的第二二端存储元件信号之间的差信号。
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公开(公告)号：CN103247338B
公开(公告)日：2016-12-28
申请号：CN201310050079.4
申请日：2013-02-08
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
CPC classification number: G11C11/1673 , G11C11/16 , G11C2213/78
Abstract: 本发明公开了存储单元、形成存储单元的方法以及操作存储单元的方法。提供一种存储单元，所述存储单元包括：第一二端存储元件；第二二端存储元件；控制器电路，其被配置成将所述第一二端存储元件编程至一个或多个状态并将所述第二二端存储元件编程至一个或多个状态，其中所述第一二端存储元件的状态和所述第二二端存储元件的状态相互依赖；以及测量电路，其被配置成测量与所述第一二端存储元件的状态相关联的第一二端存储元件信号和与所述第二二端存储元件的状态相关联的第二二端存储元件信号之间的差信号。
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