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公开(公告)号：CN110196021A
公开(公告)日：2019-09-03
申请号：CN201910041947.X
申请日：2019-01-16
Applicant: 苏州大学
IPC: G01B11/06
Abstract: 本发明公开了一种基于光学相干断层扫描成像技术测量涂层厚度及其应用，所述的方法包括以下步骤：搭建光学相干断层扫描成像（OCT）测试系统；使用OCT系统对样品材料进行深度方向和表面的二维横截面进行扫描，并最终获得被测对象的三维扫描图；将所获得的三维扫描图进行降噪处理后，转换成二进制图像，之后采用边缘跟踪法分割涂层的上下边界，计算涂层的厚度。所述的方法不仅能够实现对涂层的无损自动检测，而且该方法能够实现快速、准确、大范围的测量涂层的厚度。可应用于测量薄膜涂层的厚度包括印刷电路板表面的三防漆、着色聚合物涂料、瓷器保护涂层、等离子喷涂陶瓷、生物可降解复合涂层、清漆涂层、透明或半透明药片薄膜涂层。
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