-
公开(公告)号:CN101893509B
公开(公告)日:2011-10-05
申请号:CN201010225748.3
申请日:2010-07-14
Applicant: 苏州大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种测量光学系统调制传递函数的技术,特别涉及一种测量大数值孔径显微物镜调制传递函数的装置及方法。该装置所述的像分析仪(11)包括扫描刀口(8)、扫描控制器(9)、积分球(10)、半导体光电探测器(12)和锁相放大器(13);扫描刀口(8)安装在积分球(10)的开口前面;扫描控制器(9)接收由控制及数据处理系统(14)发出的控制信号,驱动刀口运动;半导体光电探测器(12)安装在积分球(10)的内壁上,其输出的电流信号经锁相放大器(13)处理后输入到控制及数据处理系统(14)。该装置结构简单,功能扩展性好,工作波段宽,且使用方便,还可用于光学系统调制传递函数的测量。
-
公开(公告)号:CN101893509A
公开(公告)日:2010-11-24
申请号:CN201010225748.3
申请日:2010-07-14
Applicant: 苏州大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种测量光学系统调制传递函数的技术,特别涉及一种测量大数值孔径显微物镜调制传递函数的装置及方法。该装置所述的像分析仪(11)包括扫描刀口(8)、扫描控制器(9)、积分球(10)、半导体光电探测器(12)和锁相放大器(13);扫描刀口(8)安装在积分球(10)的开口前面;扫描控制器(9)接收由控制及数据处理系统(14)发出的控制信号,驱动刀口运动;半导体光电探测器(12)安装在积分球(10)的内壁上,其输出的电流信号经锁相放大器(13)处理后输入到控制及数据处理系统(14)。该装置结构简单,功能扩展性好,工作波段宽,且使用方便,还可用于光学系统调制传递函数的测量。
-
公开(公告)号:CN101782457B
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN201010125698.1
申请日:2010-03-10
Applicant: 苏州大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种测量调制传递函数的装置及其方法。该装置的分辨率板置于平行光管的支架上,位于平行光管截面内中心位置,其外框为正方形,分辨率板上的图形为同心、不同间距及宽度的明暗相间的环状条纹。测量方法是以所需测量方向的方位角θ为中心,在该方位角的左右两个方向分别延续微量角度作为处理区域,对分辨率板在该处理区域内的空间方向、空间频率的环状条纹区域图像进行测量,经数据处理,统计出其图像灰度值的极大值与极小值,得到该所需测量方向范围内图像的对比度,计算得到调制传递函数值。本发明采用分辨率板的环状分辨率图形,不仅能测得光电仪器水平、垂直两个方向上的MTF数值,并且能测得其任何空间方向上的MTF数值。
-
公开(公告)号:CN101782457A
公开(公告)日:2010-07-21
申请号:CN201010125698.1
申请日:2010-03-10
Applicant: 苏州大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种测量调制传递函数的装置及其方法。该装置的分辨率板置于平行光管的支架上,位于平行光管截面内中心位置,其外框为正方形,分辨率板上的图形为同心、不同间距及宽度的明暗相间的环状条纹。测量方法是以所需测量方向的方位角θ为中心,在该方位角的左右两个方向分别延续微量角度作为处理区域,对分辨率板在该处理区域内的空间方向、空间频率的环状条纹区域图像进行测量,经数据处理,统计出其图像灰度值的极大值与极小值,得到该所需测量方向范围内图像的对比度,计算得到调制传递函数值。本发明采用分辨率板的环状分辨率图形,不仅能测得光电仪器水平、垂直两个方向上的MTF数值,并且能测得其任何空间方向上的MTF数值。
-
-
-