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公开(公告)号：CN115753946A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211424156.3
申请日：2022-11-15
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N27/416 , G01R31/00
Abstract: 本发明涉及低维材料电学性能变温测试台及变温测试装置，包括样品台，样品台上设置有凹槽，凹槽内设置有垫片，待测样品设置在垫片上；电极掩模板，覆盖设置在所述待测样品上；金属屏蔽环，其外径不大于所述垫片的外径，所述电极掩模板的外径小于所述金属屏蔽环的内径，且金属屏蔽环与垫片相抵接；探针，设置有至少四个，所述至少四个探针均沿所述凹槽周向设置在所述样品台上，所述电极掩模板上设置有至少四个探针孔，所述待测样品的电极端设置在所述探针孔内，所述探针的针尖穿过所述探针孔与所述待测样品的电极端相抵接，所述探针的另一端固定设置在所述样品台上。本发明易于精确定位，实验测试结果准确，测试效率较高。
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