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公开(公告)号:CN104215626A
公开(公告)日:2014-12-17
申请号:CN201410492201.8
申请日:2014-09-24
Applicant: 苏州大学
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明公开了一种基于表面增强拉曼光谱检测耳聋基因的方法,以氢氟酸浸泡除杂后的单晶硅片,在其表面形成硅-氢键,加入硝酸银制得硅表面增强拉曼散射基底;将发夹DNA末端巯基与银纳米粒子共价形成Ag-S键,使发夹DNA共价连接到银纳米粒子修饰的硅片上,老化后,加入待检测耳聋致病基因序列充分杂交进行SERS检测;本发明采用发夹DNA辅助的SERS硅基底进行实体中耳聋致病基因的检测,有效提高了拉曼检测灵敏度,降低检测线,具有高特异性,重现性好。该检测方法操作简单,成本低,易于普及和传播。
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