一种锥体表面光洁度检测方法及装置

    公开(公告)号:CN108120719B

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN201711308306.3

    申请日:2017-12-11

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种锥体表面光洁度检测方法及装置,其中,所述锥体表面光洁度检测装置包括:支撑系统,光源系统,取像系统以及图像分析系统;其中,所述支撑系统用于调节锥体样品的测试位置;所述光源系统用于照射锥体表面产生检测用的反射光;所述取像系统用于接收锥体表面的反射光;所述图像分析系统用于将所述取像系统接收到的反射光进行图像处理得到锥体表面光洁度信息。本发明可以实现快速、实时检测金属锥体表面光洁度测试,提高检测和生产效率。

    一种宽光谱薄膜光子筛空间望远系统

    公开(公告)号:CN106950688A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710319103.8

    申请日:2017-05-08

    Applicant: 苏州大学

    CPC classification number: G02B23/00 G02B13/0055

    Abstract: 本发明公开了一种宽光谱薄膜光子筛空间望远系统,沿光线入射方向,成像光路依次为薄膜光子筛主镜、中继透镜、色差校正衍射镜和再聚焦透镜,所述薄膜光子筛主镜与色差校正衍射镜的光焦度相反而色散相同,所述空间望远系统满足,其中f1和f2分别为薄膜光子筛主镜和色差校正衍射镜的焦距,且f1和f2异号,D1和D2分别为薄膜光子筛主镜和色差校正衍射镜的口径,中继透镜的放大倍率为β。本发明宽光谱薄膜光子筛空间望远系统可实现宽光谱成像,同时具有高的成像质量。

    一种基于检测波前编码系统的光子筛对准方法

    公开(公告)号:CN107152998A

    公开(公告)日:2017-09-12

    申请号:CN201710262507.8

    申请日:2017-04-20

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 一种基于检测波前编码系统的光子筛对准方法,在主全息外围加入光子筛,将光子筛放在汇聚光路中,通过观察光子筛的干涉条纹,采用计算全息法对波前编码系统相位进行反向调制,使得主全息与波前编码系统的顶点曲率中心重合且旋转对称轴线重合,实现主全息的精确定位。本发明通过在主全息外围设计了一个光子筛作为检测波前编码系统的对准系统,观察通过光子筛的干涉条纹判断主全息板是否存在离焦、偏心及倾斜,从而实现主全息的精确定位。

    一种基于微透镜阵列的光场光谱显微成像方法及系统

    公开(公告)号:CN105974573B

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201610383141.5

    申请日:2016-06-02

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明提出了一种将微透镜阵列和显微物镜及光谱分光系统相结合构成的光场光谱显微成像方法及系统,能够在一个积分时间内获取物体的光场和光谱五维向量信息,该成像系统前置物镜选用显微物镜,给微小物质的组成成分的探测提供了方便;微透镜阵列放置在显微物镜的像平面位置,前端显微物镜和微透镜阵列构成光场显微成像系统,微透镜阵列的像平面可获取样本的四维光场信息;因此微透镜阵列后记录的光场信息同时经分光系统传播到探测器平面,光场光谱显微成像系统可以在不需要扫描的情况下获取样本整体的光谱信息;探测器放置在分光系统的像平面位置,对前端光路结构捕获的五维向量数据进行算法重构可以获得不同波长及不同视角的物体信息。

    一种基于微透镜阵列的光场光谱显微成像方法及系统

    公开(公告)号:CN105974573A

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201610383141.5

    申请日:2016-06-02

    Applicant: 苏州大学

    CPC classification number: G02B21/02 G01J3/2823 G01N21/25 G02B27/1006

    Abstract: 本发明提出了一种将微透镜阵列和显微物镜及光谱分光系统相结合构成的光场光谱显微成像方法及系统,能够在一个积分时间内获取物体的光场和光谱五维向量信息,该成像系统前置物镜选用显微物镜,给微小物质的组成成分的探测提供了方便;微透镜阵列放置在显微物镜的像平面位置,前端显微物镜和微透镜阵列构成光场显微成像系统,微透镜阵列的像平面可获取样本的四维光场信息;因此微透镜阵列后记录的光场信息同时经分光系统传播到探测器平面,光场光谱显微成像系统可以在不需要扫描的情况下获取样本整体的光谱信息;探测器放置在分光系统的像平面位置,对前端光路结构捕获的五维向量数据进行算法重构可以获得不同波长及不同视角的物体信息。

    一种基于检测波前编码系统的光子筛对准方法

    公开(公告)号:CN107152998B

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201710262507.8

    申请日:2017-04-20

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 一种基于检测波前编码系统的光子筛对准方法,在主全息外围加入光子筛,将光子筛放在汇聚光路中,通过观察光子筛的干涉条纹,采用计算全息法对波前编码系统相位进行反向调制,使得主全息与波前编码系统的顶点曲率中心重合且旋转对称轴线重合,实现主全息的精确定位。本发明通过在主全息外围设计了一个光子筛作为检测波前编码系统的对准系统,观察通过光子筛的干涉条纹判断主全息板是否存在离焦、偏心及倾斜,从而实现主全息的精确定位。

    一种锥体表面光洁度检测方法及装置

    公开(公告)号:CN108120719A

    公开(公告)日:2018-06-05

    申请号:CN201711308306.3

    申请日:2017-12-11

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本发明公开了一种锥体表面光洁度检测方法及装置,其中,所述锥体表面光洁度检测装置包括:支撑系统,光源系统,取像系统以及图像分析系统;其中,所述支撑系统用于调节锥体样品的测试位置;所述光源系统用于照射锥体表面产生检测用的反射光;所述取像系统用于接收锥体表面的反射光;所述图像分析系统用于将所述取像系统接收到的反射光进行图像处理得到锥体表面光洁度信息。本发明可以实现快速、实时检测金属锥体表面光洁度测试,提高检测和生产效率。

    一种用于自聚焦透镜的折射率分布测试装置及图像获取装置

    公开(公告)号:CN207850920U

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201721734733.3

    申请日:2017-12-13

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型涉及折射率分布测试装置领域,具体涉及一种用于自聚焦透镜的折射率分布测试装置,包括激光器、第一分束器、自聚焦透镜、第一反射镜、相位调制器件、第二反射镜、第二分束器、相机和处理器;所述激光器发射激光光束入射至第一分束器并分束成两路分光路径,第一路分光路径依次经过自聚焦透镜、第一反射镜并入射至第二分束器中,第二路分光路径依次经过相位调制器件、第二反射镜并入射至第二分束器中,所述第二分束器接收汇合的激光光束并射出,并成像于相机,所述处理器根据图像数据获取自聚焦透镜的折射率分布信息。所述折射率分布测试装置能够准确测试自聚焦透镜的折射率分布,从而通过折射率分布对自聚焦透镜做出定量的检测与分析。

    一种基于手机镜头的便携式眼底检测装置

    公开(公告)号:CN207627298U

    公开(公告)日:2018-07-20

    申请号:CN201720669026.4

    申请日:2017-06-09

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于手机镜头的便携式眼底检测装置,包括相间隔设置的接目物镜、准直镜以及用于放置接目物镜、准直镜的壳体,所述壳体两端设有开口,所述接目物镜包括第一双胶合透镜和第二双胶合透镜,所述第一双胶合透镜与第二双胶合透镜相对设置,所述准直镜包括第三双胶合透镜和第四双胶合透镜,所述第三双胶合透镜与第四双胶合透镜相对设置。本实用新型更为小巧轻便、便于携带、操作简单、快速成像并能够获得高分辨率图像,使用者可以在家中对自身眼睛情况进行无创伤检测,并能随时发现病况及时就医。

    一种基于激光衍射的锥体表面光洁度检测装置

    公开(公告)号:CN207764124U

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201721712919.9

    申请日:2017-12-11

    Applicant: 苏州大学

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于激光衍射的锥体表面光洁度检测装置,其中,包括:用于安放锥体样品的支撑系统;设置在所述支撑系统上部,用于提供从锥体样品正上方入射的激光光束的光源系统;设置在所述支撑系统一侧,用于接收从锥体表面反射的水平环形反射光的摄像系统;以及与所述摄像系统连接,用于根据摄像系统接收到的激光强度信息得到锥体表面光洁度信息的图像分析系统。本实用新型基于激光衍射的锥体表面光洁度检测装置,能够实现快速、实时检测金属锥体表面光洁度测试,提高检测和生产效率。

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