公开(公告)号：CN118711166A

公开(公告)日：2024-09-27

申请号：CN202410760568.7

申请日：2024-06-13

Applicant: 航天宏图信息技术股份有限公司

Inventor： 张文乐 ,  王宇翔 ,  王涛

IPC: G06V20/62 ,  G06V30/148 ,  G06V30/146 ,  G06V30/186 ,  G06V30/19 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/096

Abstract: 本发明提供了一种工业指针仪表检测读数识别方法、装置、设备及介质，包括：获取待检测图像；通过目标检测模型，从待检测图像中提取多尺度的第一特征图，基于多尺度的第一特征图构建多尺度的高级语义特征信息，对多尺度的高级语义特征信息进行逐层特征融合处理，以从待检测图像中提取出仪表图像；通过语义分割模型，从仪表图像中提取多尺度的第二特征图，对多尺度的第二特征图进行局部及全局注意处理，以生成仪表图像对应的指针及刻度掩膜图像；基于指针及刻度掩膜图像，确定待检测图像对应的仪表读数结果。本发明可以显著提高工业指针仪表检测读数识别的精度，从而提高工业场景在不同仪表的安全使用，保证工业生产能够稳定进行。

公开(公告)号：CN118711166B

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202410760568.7

申请日：2024-06-13

Applicant: 航天宏图信息技术股份有限公司

Inventor： 张文乐 ,  王宇翔 ,  王涛

IPC: G06V20/62 ,  G06V30/148 ,  G06V30/146 ,  G06V30/186 ,  G06V30/19 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/096

Abstract: 本发明提供了一种工业指针仪表检测读数识别方法、装置、设备及介质，包括：获取待检测图像；通过目标检测模型，从待检测图像中提取多尺度的第一特征图，基于多尺度的第一特征图构建多尺度的高级语义特征信息，对多尺度的高级语义特征信息进行逐层特征融合处理，以从待检测图像中提取出仪表图像；通过语义分割模型，从仪表图像中提取多尺度的第二特征图，对多尺度的第二特征图进行局部及全局注意处理，以生成仪表图像对应的指针及刻度掩膜图像；基于指针及刻度掩膜图像，确定待检测图像对应的仪表读数结果。本发明可以显著提高工业指针仪表检测读数识别的精度，从而提高工业场景在不同仪表的安全使用，保证工业生产能够稳定进行。