嵌入式系统的测试方法、装置、设备、介质及程序产品

    公开(公告)号:CN119739642A

    公开(公告)日:2025-04-01

    申请号:CN202510251966.0

    申请日:2025-03-05

    Abstract: 本申请涉及嵌入式系统测试技术领域,尤其涉及一种嵌入式系统的测试方法、装置、设备、介质及程序产品。应用于测试系统,测试系统包括:用于设置测试框架配置参数的测试框架配置模块,用于设置被测系统配置参数的被测系统配置模块,用于集成预封装功能函数的工具模块,以及用于管理头文件的头文件管理模块;方法包括:根据测试需求,通过测试框架配置模块、被测系统配置模块和头文件管理模块配置测试环境;根据测试需求,调用预封装功能函数编写测试用例;在测试环境下,执行测试用例生成测试代码,并编译运行测试代码得到测试脚本;执行测试脚本得到测试报告,测试报告中包括已通过用例数、未通过用例数和未执行用例数。

Patent Agency Ranking