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公开(公告)号：CN109270101A
公开(公告)日：2019-01-25
申请号：CN201811050377.2
申请日：2018-09-10
Applicant: 自贡硬质合金有限责任公司
IPC: G01N23/2202 , G01N23/223
Abstract: 本发明提供一种利用X射线荧光光谱法测定钼制品中镧含量的方法，采用已知镧含量的标准样品进行X射线荧光光谱法测定并制得光谱强度与镧含量对应的工作曲线，然后待测钼制品完全氧化后，与混合熔剂熔融制备成样片，用X射线荧光光谱仪测定样片中被测元素的特征荧光光谱强度并与工作曲线作对比，从而得到钼制品中的镧含量。其测试过程中未使用腐蚀性酸碱对样品进行化学湿法处理其操作过程简单，检测周期短，不使用腐蚀性强酸强碱，比已查到相关期刊或专利样品处理方法更简便，样品熔融稀释倍率小，熔融时间短，检测范围宽，结果稳定性和准确性高，适用于批量生产分析。
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公开(公告)号：CN117434049A
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311324651.1
申请日：2023-10-11
Applicant: 自贡硬质合金有限责任公司
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明涉及分析检测技术领域，公开了一种碳化铬中杂质测定用标准工作曲线的快速绘制方法，包括如下步骤：S1称取重铬酸钾，加入溶剂，溶解，定容，摇匀，得到铬基体溶液；S2分别取多份等量的铬基体溶液，加入混合酸，按梯度浓度加入各杂质元素标准溶液，定容，摇匀；测定不同浓度的混合标准溶液中，每一杂质元素的发射光谱强度；S3汇总步骤S2中测定的发射光谱强度，分别绘制各杂质元素的拟合曲线，即为标准工作曲线。本发明中碳化铬中杂质测定用标准工作曲线绘制方法，可显著提高标准工作曲线的精度和准确度，明显减少碳化铬杂质元素测定标准工作曲线配制及测试绘制周期，即更便捷准确地测定碳化铬中的杂质元素。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114878606A
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN202210358123.7
申请日：2022-04-07
Applicant: 自贡硬质合金有限责任公司
IPC: G01N23/20008 , G01N1/28 , G01N1/32
Abstract: 本发明公开了一种适用于硬质合金钴相结构X射线衍射法测试的制样方法，该制样方法以硬质合金试样的任一平面作为测试面，将试样测试面朝上置于盛有腐蚀溶液的容器内，所述腐蚀溶液为质量浓度均为10％～20％的铁氰化钾溶液和氢氧化钠溶液的等体积混合溶液，腐蚀溶液没过试样测试面，腐蚀时间不低于16h，腐蚀结束后，将试样取出并清洗干净，擦干即可备测。该制样方法不使用电解抛光或电解萃取设备，直接采用化学试剂溶液腐蚀除去WC‑Co硬质合金试样表层WC晶粒，从而消除WC相衍射峰的干扰，方法简便，适用于研发和生产分析制样。
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公开(公告)号：CN105823772B
公开(公告)日：2019-06-25
申请号：CN201510009654.5
申请日：2015-01-09
Applicant: 自贡硬质合金有限责任公司
Abstract: 本发明提供一种测定碳化钨中杂质元素的检测方法，具体是利用电感耦合等离子体发射光谱法快速测定碳化钨及铸造碳化钨中钴、镍、铁、钛、铝、锰、镁、钒、铬、铜、钼。采用氢氟酸和硝酸在电热消解仪中消解样品，在不分离钨基体的情况下，用高纯钨基体匹配制备标准工作曲线，解决钨基体对待测元素的光谱干扰，选择各元素最佳波长，并进行背景校正，用电感耦合等离子体发射光谱法快速同时测定碳化钨及铸造碳化钨中钴、镍、铁、钛、铝、锰、镁、钒、铬、铜、钼。本发明的检测方法操作简单，检测周期短，样品处理简便，检测范围宽，适用于批量生产分析。
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公开(公告)号：CN104674039A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201310645767.5
申请日：2013-12-03
Applicant: 自贡硬质合金有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种双晶结构硬质合金基体的生产方法，包括配料、球磨、制粒、压制成型、烧结等步骤，其配料步骤中所采用的WC由粗颗粒WC和细颗粒WC组成，其中粗颗粒WC：细颗粒WC重量百分比为17：3。采用本发明步骤制作的双晶结构硬质合金中碳化钨晶粒具有粗细两种级别，粗晶粒碳化钨均匀分布在细晶粒碳化钨中。粗晶粒碳化钨结晶完整，缺陷很少，而且很少邻接。而较高比例的粗晶粒碳化钨为基体材料提供了良好的抗崩刃性；细晶粒碳化钨为基体提供了良好的耐磨性。因此本发明选用的粗、细碳化钨比例，使基体材料具有较佳的综合性能，在钢材车削涂层刀片领域的应用。
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公开(公告)号：CN110567944A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910859951.7
申请日：2019-09-11
Applicant: 自贡硬质合金有限责任公司
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明提供一种碳化钒中微量铁、铝、硅、钙的测定方法，具体是通过标准加入法消除钒基体的光谱干扰，用少量氢氟酸、硝酸溶解样品，定容摇匀，分取几份等量的溶液，每份溶液中分别加入铁、铝、硅、钙标准溶液，利用电感耦合等离子体发射光谱法快速测定碳化钒中微量铁、铝、硅、钙。本发明的检测方法简便，易操作，能准确测量碳化钒中微量铁、铝、硅、钙含量，适用于生产分析。
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公开(公告)号：CN105823772A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201510009654.5
申请日：2015-01-09
Applicant: 自贡硬质合金有限责任公司
Abstract: 本发明提供一种测定碳化钨中杂质元素的检测方法，具体是利用电感耦合等离子体发射光谱法快速测定碳化钨及铸造碳化钨中钴、镍、铁、钛、铝、锰、镁、钒、铬、铜、钼。采用氢氟酸和硝酸在电热消解仪中消解样品，在不分离钨基体的情况下，用高纯钨基体匹配制备标准工作曲线，解决钨基体对待测元素的光谱干扰，选择各元素最佳波长，并进行背景校正，用电感耦合等离子体发射光谱法快速同时测定碳化钨及铸造碳化钨中钴、镍、铁、钛、铝、锰、镁、钒、铬、铜、钼。本发明的检测方法操作简单，检测周期短，样品处理简便，检测范围宽，适用于批量生产分析。
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