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公开(公告)号：CN118758903B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411245508.8
申请日：2024-09-06
Applicant: 联合光科技(北京)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光学镀膜元件透、反射率测试系统及方法，涉及光学镀膜技术领域，包括获取光学镀膜元件信息，对光学膜进行光学测试，获取光学膜透过曲线，根据光学膜透过曲线，获取光学膜特征波长信息，基于光学膜特征波长信息，获取光学膜特征数据集。本发明通过光学镀膜折射差异系数，对透过曲线极值点进行筛选，获取透过曲线极值特征点信息，通过透过曲线极值特征点信息，选取出特定的透过曲线极值点，便于之后对光学镀膜元件进行测试，提高了测试效率，通过光学镀膜元件测试偏离系数确保了光学镀膜元件测试数据的可靠性和准确性，避免与光学镀膜元件实际状况差别过大，提高了光学镀膜元件的产品稳定性。
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公开(公告)号：CN118758903A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411245508.8
申请日：2024-09-06
Applicant: 联合光科技(北京)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光学镀膜元件透、反射率测试系统及方法，涉及光学镀膜技术领域，包括获取光学镀膜元件信息，对光学膜进行光学测试，获取光学膜透过曲线，根据光学膜透过曲线，获取光学膜特征波长信息，基于光学膜特征波长信息，获取光学膜特征数据集。本发明通过光学镀膜折射差异系数，对透过曲线极值点进行筛选，获取透过曲线极值特征点信息，通过透过曲线极值特征点信息，选取出特定的透过曲线极值点，便于之后对光学镀膜元件进行测试，提高了测试效率，通过光学镀膜元件测试偏离系数确保了光学镀膜元件测试数据的可靠性和准确性，避免与光学镀膜元件实际状况差别过大，提高了光学镀膜元件的产品稳定性。
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公开(公告)号：CN118691953A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202411172399.1
申请日：2024-08-26
Applicant: 联合光科技(北京)有限公司
IPC: G06V10/98 , G06V10/26 , G06V10/764
Abstract: 本发明公开了基于视觉成像的光学元件表面污染物快速检测方法，具体涉及光学元件检测技术领域，包括以下步骤：将光学元件表面划分为多个检测区域并进行成像采集；分析每个检测区域的成像信息，生成环境变化剧烈指数和图像采集异常指数；综合分析生成检测区域变化异常系数；根据异常系数将检测区域划分为采纳或非采纳数据区域；分析环境变化剧烈指数的差异程度，决定重新采集区域；推理重新采集图像时的优化方向；不需重新采集时，将所有图像汇总用于污染物检测；本发明能够准确评估各检测区域的图像采集质量，确保环境条件对图像采集的影响符合预设标准，从而提升整体图像数据质量，并且可以避免不必要的全面重新采集，节约时间和资源。
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公开(公告)号：CN118691953B
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411172399.1
申请日：2024-08-26
Applicant: 联合光科技(北京)有限公司
IPC: G06V10/98 , G06V10/26 , G06V10/764
Abstract: 本发明公开了基于视觉成像的光学元件表面污染物快速检测方法，具体涉及光学元件检测技术领域，包括以下步骤：将光学元件表面划分为多个检测区域并进行成像采集；分析每个检测区域的成像信息，生成环境变化剧烈指数和图像采集异常指数；综合分析生成检测区域变化异常系数；根据异常系数将检测区域划分为采纳或非采纳数据区域；分析环境变化剧烈指数的差异程度，决定重新采集区域；推理重新采集图像时的优化方向；不需重新采集时，将所有图像汇总用于污染物检测；本发明能够准确评估各检测区域的图像采集质量，确保环境条件对图像采集的影响符合预设标准，从而提升整体图像数据质量，并且可以避免不必要的全面重新采集，节约时间和资源。
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