用于制造少缺陷的边界面的方法和设备

    公开(公告)号:CN118553607A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410212285.9

    申请日:2024-02-27

    Abstract: 本发明涉及一种用于在GaN功率晶体管的GaN半导体衬底和栅极电介质之间制造少缺陷的边界面的方法(100),包括以下步骤:将至少一个GaN半导体衬底安置(120)到设备中,在所述设备内部产生(130)真空,将所述设备加热(140)到第一温度,以所述第一温度实施(150)第一温度步骤,其中,反应性介质被导入所述设备中并且具有第一分压,以第二温度实施(160)第二温度步骤,其中,惰性介质被导入所述设备中并且具有第二分压,以及在所述GaN半导体衬底上产生(170)所述栅极电介质。本发明还涉及一种用于在GaN功率晶体管的GaN半导体衬底和栅极电介质之间制造少缺陷的边界面的相应设备(200)。

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