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发明公开
用于识别系统中的缺陷的方法审中-实审

公开(公告)号：CN116893061A

公开(公告)日：2023-10-17

申请号：CN202310374976.4

申请日：2023-04-10

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： D·康策尔曼 , D·施特布勒 , H·霍夫迈尔 , J·蔡德勒 , K·甘特钠-张 , M·威利穆维斯基 , R·M·齐尔克 , S·米夏埃尔

IPC: G01M17/007 , G01M15/04

Abstract: 本发明涉及一种用于识别系统(100)中的缺陷的方法，该方法包括：采集(200、210、220)针对系统的多个状态指标的参数值，其中，所述状态指标包括系统的测量的参数(200)和/或所述系统的由所测量的参数计算或模拟出的参数(220)；基于针对状态指标所采集的参数值与预先给定的参考值的比较，为每个状态指标确定针对缺陷的当前评估指标；基于对预先给定的状态指标组的评估指标的组合来求取系统(100)的至少一个部件的缺陷概率，其中，所述状态指标分别配属于所述至少一个部件。

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