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公开(公告)号：CN104205478B
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201380019255.6
申请日：2013-03-07
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: H01M10/42 , H01M10/615 , H01M10/6571
CPC classification number: G01M3/002 , G01R31/36 , H01M10/0525 , H01M10/4207 , H01M10/4228 , H01M10/615 , H01M10/625 , H01M10/6571 , H01M2220/20 , Y02E60/122
Abstract: 本发明涉及一种用于定位电化学存储器165）中的缺陷的方法。该方法包括对电化学存储器（165）的部分区域（145、150、155、160、170）调温以便提高所述部分区域（145、150、155、160、170）的内部压力的步骤；检测测量值的步骤，所述测量值代表响应于所述部分区域（145、150、155、160、170）的提高的内部压力而进行的成分从所述部分区域（145、150、155、160、170）的逸出；和当所述测量值与比较值有预定的关系时定位所述部分区域（145、150、155、160、170）中的缺陷的步骤。
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公开(公告)号：CN104221212A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201380019540.8
申请日：2013-03-07
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01R31/3644 , G01R31/3627 , H01M10/48 , H01M10/486 , H01R43/16 , Y10T29/49117 , Y10T29/49204
Abstract: 提出一种用于电化学蓄能器（100）的传感器设备（110）。在此，传感器设备（110）被设置用于接触电化学蓄能器（100）的布置在电化学蓄能器（100）的壳体（102）之内的第一接触部位（104）和电化学蓄能器（100）的布置在电化学蓄能器（100）的壳体（102）之内的第二接触部位（106）。传感器设备（110）具有用于能导电地将传感器设备（110）连接到第一接触部位（104）上的第一连接接触件（114）。在此，在第一连接接触件（114）的表面上的第一连接材料对应于在第一接触部位（104）的表面上的至少一种第一接触材料。传感器设备（110）也具有用于能导电地将传感器设备（110）连接到第二接触部位（106）上的第二连接接触件（116）。在此，在第二连接接触件（116）的表面上的第二连接材料对应于在第二接触部位（106）的表面上的至少一种第二接触材料。
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公开(公告)号：CN104221212B
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201380019540.8
申请日：2013-03-07
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01R31/3644 , G01R31/3627 , H01M10/48 , H01M10/486 , H01R43/16 , Y10T29/49117 , Y10T29/49204
Abstract: 提出一种用于电化学蓄能器（100）的传感器设备（110）。在此，传感器设备（110）被设置用于接触电化学蓄能器（100）的布置在电化学蓄能器（100）的壳体（102）之内的第一接触部位（104）和电化学蓄能器（100）的布置在电化学蓄能器（100）的壳体（102）之内的第二接触部位（106）。传感器设备（110）具有用于能导电地将传感器设备（110）连接到第一接触部位（104）上的第一连接接触件（114）。在此，在第一连接接触件（114）的表面上的第一连接材料对应于在第一接触部位（104）的表面上的至少一种第一接触材料。传感器设备（110）也具有用于能导电地将传感器设备（110）连接到第二接触部位（106）上的第二连接接触件（116）。在此，在第二连接接触件（116）的表面上的第二连接材料对应于在第二接触部位（106）的表面上的至少一种第二接触材料。
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公开(公告)号：CN104205478A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201380019255.6
申请日：2013-03-07
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: H01M10/42 , H01M10/615 , H01M10/6571
CPC classification number: G01M3/002 , G01R31/36 , H01M10/0525 , H01M10/4207 , H01M10/4228 , H01M10/615 , H01M10/625 , H01M10/6571 , H01M2220/20 , Y02E60/122
Abstract: 本发明涉及一种用于定位电化学存储器（165）中的缺陷的方法。该方法包括对电化学存储器（165）的部分区域（145、150、155、160、170）调温以便提高所述部分区域（145、150、155、160、170）的内部压力的步骤；检测测量值的步骤，所述测量值代表响应于所述部分区域（145、150、155、160、170）的提高的内部压力而进行的成分从所述部分区域（145、150、155、160、170）的逸出；和当所述测量值与比较值有预定的关系时定位所述部分区域（145、150、155、160、170）中的缺陷的步骤。
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