测量过滤器污染的装置及测量过滤器污染的方法

    公开(公告)号:CN105628652B

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201410585030.3

    申请日:2014-10-27

    Inventor: 李贤荣 张志雄

    Abstract: 根据本实施例的测量过滤器污染的装置的一个形态,其包括:发光部,其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光;受光部,其吸收反射到过滤器的反射光,将反射光信息转换为数字代码并输出;及污染度运算部,其对受光部提供的数字代码进行处理,运算过滤器的污染度,其中,污染度运算部运算反射到过滤器的反射光的波长由既定波长发生变化的程度,并对比发光部提供的光的光量与反射到过滤器的反射光的光量,由此,运算过滤器的污染度。

    测量过滤器污染的装置及测量过滤器污染的方法

    公开(公告)号:CN105628652A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410585030.3

    申请日:2014-10-27

    Inventor: 李贤荣 张志雄

    Abstract: 根据本实施例的测量过滤器污染的装置的一个形态,其包括:发光部,其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光;受光部,其吸收反射到过滤器的反射光,将反射光信息转换为数字代码并输出;及污染度运算部,其对受光部提供的数字代码进行处理,运算过滤器的污染度,其中,污染度运算部运算反射到过滤器的反射光的波长由既定波长发生变化的程度,并对比发光部提供的光的光量与反射到过滤器的反射光的光量,由此,运算过滤器的污染度。

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