箝位控制方法、箝位校正装置、图像传感器和电子设备

    公开(公告)号:CN101682701B

    公开(公告)日:2013-02-20

    申请号:CN200980000439.1

    申请日:2009-02-13

    Inventor: 田口宏幸

    CPC classification number: H04N5/361 H04N5/2176 H04N5/3745 H04N5/378

    Abstract: 本发明涉及可以在具有大量像素的图像传感器中以低功耗执行整体上没有不自然的高质量成像的箝位控制方法、箝位校正装置、图像传感器和电子设备。箝位校正处理包括以下处理:计算相同的扫描行中的左侧水平OPB区域51L中的行像素的平均值并保持该平均值(S31)的处理;以及在扫描相应的下一行时调用该平均值、从自身减去该平均值以执行预定的箝位校正并将该值设置为对应的左侧有效像素区域41L的行中的黑色电平的下限值的处理(S32)。另外,箝位校正处理包括以下处理:计算右侧水平OPB区域51R中的行像素的平均值并保持该平均值的处理(S41);以及在扫描相应的下一行时调用该平均值、从自身减去该平均值以进行预定的箝位校正并将该值设置为对应的左侧有效像素区域41R的行中的黑色电平的下限值的处理(S42)。本发明可应用于具有大量像素的CMOS图像传感器等。

    箝位控制方法、箝位校正装置、图像传感器和电子设备

    公开(公告)号:CN101682701A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200980000439.1

    申请日:2009-02-13

    Inventor: 田口宏幸

    CPC classification number: H04N5/361 H04N5/2176 H04N5/3745 H04N5/378

    Abstract: 本发明涉及可以在具有大量像素的图像传感器中以低功耗执行整体上没有不自然的高质量成像的箝位控制方法、箝位校正装置、图像传感器和电子设备。箝位校正处理包括以下处理:计算相同的扫描行中的左侧水平OPB区域51L中的行像素的平均值并保持该平均值(S31)的处理;以及在扫描相应的下一行时调用该平均值、从自身减去该平均值以执行预定的箝位校正并将该值设置为对应的左侧有效像素区域41L的行中的黑色电平的下限值的处理(S32)。另外,箝位校正处理包括以下处理:计算右侧水平OPB区域51R中的行像素的平均值并保持该平均值的处理(S41);以及在扫描相应的下一行时调用该平均值、从自身减去该平均值以进行预定的箝位校正并将该值设置为对应的左侧有效像素区域41R的行中的黑色电平的下限值的处理(S42)。本发明可应用于具有大量像素的CMOS图像传感器等。

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