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公开(公告)号：CN102410879B
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：CN201110236664.4
申请日：2011-08-17
Applicant: 索尼公司
Inventor： 酒井启嗣
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/274 , G01N2021/6417
Abstract: 本发明公开了荧光强度校正方法、校正程序、计算方法和计算装置。荧光强度校正方法包括：接收从荧光染料发出的荧光，从每个光检测器收集检测值，并且获取每种荧光染料的荧光光谱作为一个光谱组；将所获取的光谱组分离成多个小光谱组；将所分离的小光谱组与预先所获取的每种荧光染料的荧光波长分布进行比较，并将该小光谱组指定为任意荧光染料的荧光光谱；将在没有被指定的小光谱组和一个或多个指定的小光谱组之间的差分光谱与预先所获取的未被指定的荧光染料的荧光波长分布进行比较，并且将该差分光谱指定为任意荧光染料的荧光光谱；并且计算从每种荧光染料发出的荧光的强度。
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公开(公告)号：CN102313724A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201110185326.2
申请日：2011-07-01
Applicant: 索尼公司
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N21/53 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N2021/4707 , G01N2021/4726 , G01N2021/6421 , G01N2021/6439 , G01N2201/1293
Abstract: 本发明提供了荧光强度校正方法和荧光强度计算装置，该荧光强度校正方法包括：利用具有不同输入波段的光检测器，接收通过对微粒照射光而被激发的荧光染料所发出的荧光，这些微粒被具有重叠荧光波长的多个荧光染料多重标记；收集光检测器的检测值，得到测定光谱；并且通过从各荧光染料单独标记的微粒得到的单染色光谱的线性和对测定光谱进行近似；其中，使用受限最小二乘法进行利用单染色光谱的线性和的测定光谱的近似。
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公开(公告)号：CN102410879A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201110236664.4
申请日：2011-08-17
Applicant: 索尼公司
Inventor： 酒井启嗣
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N21/274 , G01N2021/6417
Abstract: 本发明公开了荧光强度校正方法、校正程序、计算方法和计算装置。荧光强度校正方法包括：接收从荧光染料发出的荧光，从每个光检测器收集检测值，并且获取每种荧光染料的荧光光谱作为一个光谱组；将所获取的光谱组分离成多个小光谱组；将所分离的小光谱组与预先所获取的每种荧光染料的荧光波长分布进行比较，并将该小光谱组指定为任意荧光染料的荧光光谱；将在没有被指定的小光谱组和一个或多个指定的小光谱组之间的差分光谱与预先所获取的未被指定的荧光染料的荧光波长分布进行比较，并且将该差分光谱指定为任意荧光染料的荧光光谱；并且计算从每种荧光染料发出的荧光的强度。
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公开(公告)号：CN102262043A
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN201110099690.7
申请日：2011-04-20
Applicant: 索尼公司
Inventor： 酒井启嗣
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G06T11/206 , G01N15/1463 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N2021/6421 , G01N2021/6423 , G01N2021/6441 , G06T11/001
Abstract: 本发明披露了微粒分析装置和数据显示方法，该微粒分析装置包括：检测部，被配置为在多个波长区域同时检测由微粒产生的荧光；以及显示部，被配置为在其上以光谱的形式来显示多个波长区域中的检测结果。
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公开(公告)号：CN102235976A
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201110101152.7
申请日：2011-04-21
Applicant: 索尼公司
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N2021/6421 , G01N2021/6439
Abstract: 本文提供了荧光强度校正方法、荧光强度计算方法及计算装置。更具体地，提供了一种荧光强度计算装置，包括：测量部，该测量部被构造成通过光检测器接收由通过对用多个荧光染料多重标记的微粒照射光而激发的多个荧光染料产生的荧光，然后通过从光检测器收集检测值来获得测定光谱；以及计算部，该计算部被构造成基于从用荧光染料单个标记的微粒获得的单染色光谱的线性总和来近似测定光谱，从而分别计算由荧光染料产生的荧光的强度，其中该多个荧光染料具有彼此重叠的荧光波长带，并且其中该光检测器分别对应于不同的接收光波长带，并且该光检测器的数量大于荧光染料的数量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102539397B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201110353124.4
申请日：2011-11-09
Applicant: 索尼公司
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/274 , G01N15/1429 , G01N21/6428 , G01N2015/0065
Abstract: 本发明公开了一种荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置。一种荧光光谱校正方法，包括：对从标记有多个荧光染料的微粒获取的荧光光谱与参考光谱进行比较，从而将荧光光谱分离为针对每个染料的荧光光谱，并且将先前测得的光谱数据用作为参考光谱。
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公开(公告)号：CN102262043B
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201110099690.7
申请日：2011-04-20
Applicant: 索尼公司
Inventor： 酒井启嗣
IPC: G01N15/14
CPC classification number: G06T11/206 , G01N15/1463 , G01N21/6428 , G01N21/645 , G01N2021/6421 , G01N2021/6423 , G01N2021/6441 , G06T11/001
Abstract: 本发明披露了微粒分析装置和数据显示方法，该微粒分析装置包括：检测部，被配置为在多个波长区域同时检测由微粒产生的荧光；以及显示部，被配置为在其上以光谱的形式来显示多个波长区域中的检测结果。
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公开(公告)号：CN102235976B
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN201110101152.7
申请日：2011-04-21
Applicant: 索尼公司
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6428 , G01N2021/6421 , G01N2021/6439
Abstract: 本文提供了荧光强度校正方法、荧光强度计算方法及计算装置。更具体地，提供了一种荧光强度计算装置，包括：测量部，该测量部被构造成通过光检测器接收由通过对用多个荧光染料多重标记的微粒照射光而激发的多个荧光染料产生的荧光，然后通过从光检测器收集检测值来获得测定光谱；以及计算部，该计算部被构造成基于从用荧光染料单个标记的微粒获得的单染色光谱的线性总和来近似测定光谱，从而分别计算由荧光染料产生的荧光的强度，其中该多个荧光染料具有彼此重叠的荧光波长带，并且其中该光检测器分别对应于不同的接收光波长带，并且该光检测器的数量大于荧光染料的数量。
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公开(公告)号：CN102539397A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110353124.4
申请日：2011-11-09
Applicant: 索尼公司
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/274 , G01N15/1429 , G01N21/6428 , G01N2015/0065
Abstract: 本发明公开了一种荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置。一种荧光光谱校正方法，包括：对从标记有多个荧光染料的微粒获取的荧光光谱与参考光谱进行比较，从而将荧光光谱分离为针对每个染料的荧光光谱，并且将先前测得的光谱数据用作为参考光谱。
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公开(公告)号：CN102590046B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201110380060.7
申请日：2011-11-25
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N15/1463 , G01N2015/1006 , G01N2015/1402 , G01N2015/1445 , G01N2015/1477 , G01N2015/1493 , G06T19/00
Abstract: 本发明提供了3D数据分析装置、方法和程序，该3D数据分析装置包括：数据存储单元，被配置为存储微粒的测量数据；输入单元，被配置为从测量数据选择四种独立变量；数据处理单元，被配置为计算以所选的变量中的三种变量为坐标轴的坐标空间中的位置，根据所选变量中剩余的一种变量来计算图形，并创建表示微粒的特性分布的3D立体图像；显示单元，被配置为显示3D立体图像。
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