公开(公告)号：CN110771149A

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201880041840.9

申请日：2018-05-15

Applicant: 索尼公司

Inventor： 岩濑晶 ,  森隆宽 ,  中山大辅 ,  小玉康广 ,  木下雅也

IPC: H04N5/235 ,  G03B7/091 ,  G03B15/02 ,  G03B15/05 ,  H04N5/225 ,  H04N5/232 ,  H04N5/243 ,  H04N5/353 ,  H04N5/357

Abstract: 控制部45分别通过成像部21设定用于获得成像图片的成像像素和用于检测照射光强度的光强度检测像素的曝光定时和曝光时间。校正增益计算部32基于由成像像素生成的像素信号和由光强度检测像素生成的像素信号计算各成像像素的闪烁校正增益。闪烁校正部33使用由校正增益计算部32计算的各成像像素的闪烁校正增益来执行成像像素的闪烁校正。因此，不论照明设备和成像对象之间位置关系怎样，都可以获得发射光的强度波动对其影响降低的成像图片。