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发明公开
用于电子仪器的尘埃测试设备和方法无效

公开(公告)号：CN102288845A

公开(公告)日：2011-12-21

申请号：CN201110128116.X

申请日：2011-05-18

Applicant: 索尼公司

Inventor： 武田晃洋 , 曾根原隆 , 曾根原浩司 , 小口敏男 , 古田吉昌 , 浦岛基 , 海口康洋 , 笠井孝史

IPC: G01R31/00 , G06F11/22

Abstract: 本发明涉及用于电子仪器的尘埃测试设备和方法。该尘埃测试设备包括：封入有尘埃的壳体；用于将电子仪器设置在壳体中的安装台；用于在第一周期内将灰尘散射在整个壳体中的第一送风器；以及用于在比第一周期长的第二周期内吹掉附着到电子仪器的通风孔的尘埃的第二送风器。周期性地吹掉已经阻塞通风孔的尘埃。从而，可以在开始测试之后的早期阶段没有完全阻塞通风孔的情况下继续测试。因此，可以适当地再现长期使用之后尘埃附着于通风孔的状态。

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