公开(公告)号：CN101452674B

公开(公告)日：2011-04-06

申请号：CN200810181663.2

申请日：2008-12-02

Applicant: 索尼公司

Inventor： 二矢雅俊 ,  田尻宪一 ,  小泽裕

IPC: G09G3/34 ,  G09G3/36

CPC classification number: G01J1/18 ,  G01J1/42 ,  G01J1/4204 ,  G01J1/4228 ,  G09G3/20 ,  G09G2360/144 ,  H04N5/58 ,  H04N21/42202

Abstract: 本发明适宜地排除电光装置自身射出的光的影响，并且适宜地检测电光装置的周围的外光的光强度。电光装置(1)具备：射出显示光的显示单元(100，400)；使显示光的射出停止的发光停止单元(120)；在显示光的射出停止的期间，接受外光的受光单元(131)；累计由受光单元接受的外光的受光量的累计单元(112)；以及根据直到受光量的累计值超过规定的阈值为止所需要的时间，计算外光的光强度的计算单元(114)。