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公开(公告)号：CN111483237A
公开(公告)日：2020-08-04
申请号：CN202010077071.7
申请日：2020-01-23
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 一种印刷装置、学习装置及学习方法，期望提高被输送物的输送位置的精度，所述印刷装置具备输送被输送物的电机，所述印刷装置构成为具备：存储部，存储已学习模型，所述已学习模型基于包括所述被输送物的速度、所述被输送物的加速度、所述被输送物的移动量、所述被输送物的移动开始位置、所述印刷装置的周围环境、流过所述电机的电流值、由所述印刷装置印刷的印刷介质的种类及所述被输送物的累积移动量的至少一个状态变量而输出使所述被输送物的输送位置靠近基准的所述电机的控制参数；及控制部，根据基于所述已学习模型而获取的所述控制参数来控制所述电机从而进行印刷。
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公开(公告)号：CN111497443B
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202010075238.6
申请日：2020-01-22
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: B41J2/01 , B41J29/393 , G06N20/00
Abstract: 一种印刷装置、机器学习装置、机器学习方法，能够容易地判别印刷介质的种类。所述印刷装置构成为具备存储部以及印刷控制部，所述存储部存储已学习模型，所述已学习模型是使用将印刷介质的反射率、印刷介质的透过率、拍摄印刷介质的表面而得到的图像数据中的至少一个与印刷介质的种类建立了对应关系的教师数据而进行了机器学习的已学习模型，所述印刷控制部使用印刷介质的反射率、印刷介质的透过率、拍摄印刷介质的表面而得到的图像数据中的至少一个与所述已学习模型来判别印刷介质的种类。
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公开(公告)号：CN110539563A
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201910445245.8
申请日：2019-05-27
Applicant: 精工爱普生株式会社
Abstract: 一种图像处理装置、起皱判定方法以及机器学习装置，提供能够检测有无起皱而不对印刷介质印刷起皱检测用图案的技术。所述图像处理装置构成为具备：光源，照亮印刷介质；传感器，读取所述印刷介质；以及控制部，控制所述光源和所述传感器，所述控制部根据所述印刷介质的判定区域中所述传感器的检测值的变化来判定所述判定区域中有无起皱。
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公开(公告)号：CN104748845A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201410818324.6
申请日：2014-12-24
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: G01J3/00
CPC classification number: G01J3/2803 , G01J3/027 , G01J3/26 , G01J3/42
Abstract: 本发明涉及光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法。分光测量装置具备：波长可变干涉滤波器，从入射光选择规定的波长的光，且能变更出射的出射光的波长；滚动快门方式的摄像元件，具有利用曝光存储电荷的像素，并按每个由多个所述像素构成的像素块延迟规定时间地实施受光处理而构成一帧，所述受光处理在受光期间向所述像素存储电荷，在所述受光期间后的非受光期间输出与存储的所述电荷相对应的检测信号；和分光控制单元(滤波器驱动部、最长驱动时间获取部及定时获取部)，控制波长可变干涉滤波器的出射光的波长变更驱动，分光控制单元在一帧中的最后实施受光处理的最终像素块的受光期间的结束定时开始波长变更驱动。
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公开(公告)号：CN111660687A
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN202010152750.6
申请日：2020-03-06
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: B41J29/393 , B41J2/01 , B41J2/165 , G06N20/00
Abstract: 一种故障时期推测装置、机器学习装置、故障时期推测方法，推测印刷装置的故障时机。构成一种故障时期推测装置，其具备：存储部，存储已学习模型，所述已学习模型是使用教师数据进行机器学习后得到的已学习模型，所述教师数据是包括将印刷装置的动作历史记录、表示当前的状态的状态信息、表示印刷结果的印刷结果图像中的至少一个的印刷装置信息与所述印刷装置的故障时期建立对应关系后得到的数据；以及控制部，获取所述印刷装置信息，并使用获取到的所述印刷装置信息和所述已学习模型来推测所述印刷装置的所述故障时期。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109835059A
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201811423411.6
申请日：2018-11-27
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 多津田哲男
IPC: B41J2/01 , B41J25/00 , B41J29/393 , B41J29/13 , B41J29/00
Abstract: 一种印刷装置，能够将分光器相对于滑架的姿态调整至恰当的姿态。印刷装置(1)具备：分光器(34)，射出光并对所反射的光进行检测，从而输出与光的强度对应的信号；白色板，用于反射光；滑架(12)，保持分光器(34)；以及第二调整机构(48)，调整分光器(34)相对于滑架(12)的姿态。
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公开(公告)号：CN104749765A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201410815698.2
申请日：2014-12-24
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0205 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J2003/2826
Abstract: 本发明涉及光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法。分光测量装置(1)具备：波长可变干涉滤波器(5)，从入射光选择规定的波长的光，且能变更出射的出射光的波长；摄像元件(11)，以全局快门方式利用出射光的曝光存储电荷，并输出与存储的电荷对应的检测信号；摄像元件控制单元(受光控制部(22))，设定使电荷存储到摄像元件(11)的受光期间、以及重置被存储的电荷的待机期间；以及分光控制单元(滤波器驱动部(21))，在波长可变干涉滤波器(5)中控制出射光的波长变更驱动，摄像元件控制单元将待机期间的长度设定为波长变更所需的驱动时间以上，分光控制单元在待机期间的开始时开始波长变更驱动。
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公开(公告)号：CN104568155A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410545537.6
申请日：2014-10-15
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 多津田哲男
IPC: G01J3/51
CPC classification number: G01J3/32 , G01J3/26 , G01J3/2803
Abstract: 本发明涉及分光测量装置及分光测量方法。分光测量装置(1)具备：从入射光选择性地出射规定的波长的光且能够改变出射的光的波长的波长可变干涉滤波器(5)；通过曝光从波长可变干涉滤波器(5)出射的光而输出与曝光量对应的检测信号的受光元件(11)；对多个波长分别获取曝光量不同的多个检测信号的检测信号获取部(23)；以及在获取的多个检测信号中选择信号电平小于与受光元件(11)的饱和曝光量对应的最大信号电平的、且为最大的检测信号。
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公开(公告)号：CN111497440B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202010073218.5
申请日：2020-01-22
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: B41J2/01 , B41J29/393
Abstract: 本发明提供一种决定介质的厚度是未知的记录介质的工作间隙的工作间隙的决定方法以及记录装置。该工作间隙的决定方法包括：第一记录工序，从记录头向介质的厚度已知的第一记录介质喷出油墨从而记录测试图案；第一拍摄工序，在记录头和第一记录介质之间的距离为第一距离以及第二距离的各个状态下，对被记录于第一记录介质上的测试图案进行拍摄；函数计算工序，对根据所拍摄到的测试图案的像素数而求出所述距离的函数进行计算；第二记录工序，在第二记录介质上记录测试图案；第二拍摄工序，对被记录在第二记录介质上的测试图案进行拍摄；工作间隙决定工序，根据所拍摄到的测试图案的像素数和函数来决定记录头与第二记录介质之间的距离。
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公开(公告)号：CN111942023B
公开(公告)日：2022-07-05
申请号：CN202010402691.3
申请日：2020-05-13
Applicant: 精工爱普生株式会社
IPC: B41J2/01 , B41J2/21 , B41J29/393 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 本发明提供一种用于通过预测印刷头的喷出不良来抑制印刷品质的降低的信息处理装置、印刷装置、学习装置以及信息处理方法等。信息处理装置(200)包括对学习完毕模型进行存储的存储部(230)、接受部(210)和处理部(220)。学习完毕模型为，根据将与喷出不良的要因相关的喷出不良要因信息、和表示被形成于印刷介质上的图像的印刷图像信息对应起来了的数据组，而对喷出不良的预测条件进行了机器学习而获得的学习完毕模型。接受部(210)从印刷装置(1)接受喷出不良要因信息。处理部(220)根据所接受的喷出不良要因信息和学习完毕模型，来预测印刷头(31)的喷出不良。
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