半导体装置以及使用该半导体装置的内电路仿真器

    公开(公告)号:CN1286015C

    公开(公告)日:2006-11-22

    申请号:CN03156030.X

    申请日:2003-08-27

    CPC classification number: G06F11/261

    Abstract: 提供一种能够在输入预定的数据或信号时,读取内部数据或程序的半导体装置等。其具有:保护电路(31)~(34),被分别连接在ROM(21)、RAM(22)、寄存器(23)及用户电路(24)与CPU(11)之间;调试电路(12),当其被连接在调试工具(40)上时,在控制CPU(11)的同时,指示保护电路不进行数据传输;保护解除电路(13),其在接收了预定的信号时,指示保护电路(31)~(34)进行数据传输,而忽略来自调试电路(12)的指示;以及CPU(11),用于在未与调试工具(40)连接时,进行预定的运算。

    半导体装置以及使用该半导体装置的内电路仿真器

    公开(公告)号:CN1489051A

    公开(公告)日:2004-04-14

    申请号:CN03156030.X

    申请日:2003-08-27

    CPC classification number: G06F11/261

    Abstract: 提供一种能够在输入预定的数据或信号时,读取内部数据或程序的半导体装置等。其具有:保护电路(31)~(34),被分别连接在ROM(21)、RAM(22)、寄存器(23)及用户电路(24)与CPU(11)之间;调试电路(12),当其被连接在调试工具(40)上时,在控制CPU(11)的同时,指示保护电路不进行数据传输;保护解除电路(13),其在接收了预定的信号时,指示保护电路(31)~(34)进行数据传输,而忽略来自调试电路(12)的指示;以及CPU(11),用于在未与调试工具(40)连接时,进行预定的运算。

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