显示装置的像素电路
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102376239A

    公开(公告)日:2012-03-14

    申请号:CN201010264049.X

    申请日:2010-08-25

    Abstract: 本发明提供一种显示装置的像素电路,使得传输至显示元件的电压值接近于所接收的数据电压,使像素电路能忠实地传递数据电压至显示元件。显示装置的像素电路包括第一写入开关、第一写入存储单元、第一电压跟随模块与一显示元件。第一电压跟随模块用以检测储存于第一写入存储单元的第一数据电压,并依据检测结果,于显示元件端产生对应的第一输出端电压,而第一电压跟随模块的输出端受控于一开关电压。

    光检测电路及其方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102128679A

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN201010206416.0

    申请日:2010-06-13

    CPC classification number: G01J1/44 H01L31/02019 H03F3/08

    Abstract: 一种光检测电路及其方法。光检测电路包括第一电阻、光传感器、电流源和第一电流镜。当光传感器受到强光照射时,依据光的强度而产生相对应的光电流。藉由将相当于低亮度范围的电流,经由电流源来分流,使得光检测电路可以针对高亮度范围的光源来进行检测,并且提高检测的准确度。因此,在强光照射的应用下,可提供足够宽的输出电压范围与足够大的感测变化刻度,以使后级电路易于辨认。

    光检测电路及其方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102128679B

    公开(公告)日:2014-12-03

    申请号:CN201010206416.0

    申请日:2010-06-13

    CPC classification number: G01J1/44 H01L31/02019 H03F3/08

    Abstract: 一种光检测电路及其方法。光检测电路包括第一电阻、光传感器、电流源和第一电流镜。当光传感器受到强光照射时,依据光的强度而产生相对应的光电流。藉由将相当于低亮度范围的电流,经由电流源来分流,使得光检测电路可以针对高亮度范围的光源来进行检测,并且提高检测的准确度。因此,在强光照射的应用下,可提供足够宽的输出电压范围与足够大的感测变化刻度,以使后级电路易于辨认。

    液晶显示面板的测试方法

    公开(公告)号:CN102411236B

    公开(公告)日:2014-11-05

    申请号:CN201010293387.6

    申请日:2010-09-26

    Abstract: 一种液晶显示面板的测试方法,其中显示面板包括多个像素与一测试垫,这些像素设置在第一至第三数据配线与多条扫描配线的交错处,且所述液晶显示面板的测试方法包括下列步骤:驱动每一扫描配线,以将这些像素的液晶电容导通至第一至第三数据配线;分别提供第一测试电压与第二测试电压至第一数据配线与第二数据配线,其中第一测试电压不等于第二测试电压;将第一数据配线浮接;以及,通过测试垫测量浮接的第一数据配线,以判定电性连接至第一数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。

    显示装置的像素电路
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102376239B

    公开(公告)日:2013-12-18

    申请号:CN201010264049.X

    申请日:2010-08-25

    Abstract: 本发明提供一种显示装置的像素电路,使得传输至显示元件的电压值接近于所接收的数据电压,使像素电路能忠实地传递数据电压至显示元件。显示装置的像素电路包括第一写入开关、第一写入存储单元、第一电压跟随模块与一显示元件。第一电压跟随模块用以检测储存于第一写入存储单元的第一数据电压,并依据检测结果,于显示元件端产生对应的第一输出端电压,而第一电压跟随模块的输出端受控于一开关电压。

    液晶显示面板的测试方法

    公开(公告)号:CN102411236A

    公开(公告)日:2012-04-11

    申请号:CN201010293387.6

    申请日:2010-09-26

    Abstract: 一种液晶显示面板的测试方法,其中显示面板包括多个像素与一测试垫,这些像素设置在第一至第三数据配线与多条扫描配线的交错处,且所述液晶显示面板的测试方法包括下列步骤:驱动每一扫描配线,以将这些像素的液晶电容导通至第一至第三数据配线;分别提供第一测试电压与第二测试电压至第一数据配线与第二数据配线,其中第一测试电压不等于第二测试电压;将第一数据配线浮接;以及,通过测试垫测量浮接的第一数据配线,以判定电性连接至第一数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。

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