用于基于半导体的应用的知识蒸馏

    公开(公告)号:CN117561520A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202280045065.0

    申请日:2022-10-25

    Abstract: 本发明提供用于确定样品的信息的方法及系统。一种系统包含计算机子系统及由所述计算机子系统执行的一或多个组件,所述一或多个组件包含经配置以用于基于利用成像子系统的学习模式由样品产生的输出而确定所述样品的信息的多个深度学习(DL)模型。所述一或多个组件还包含经配置以用于组合由所述多个DL模型产生的输出的知识蒸馏组件。另外,所述一或多个组件包含经配置以用于基于利用所述成像子系统的运行时间模式针对所述样品或额外样品产生的输出而确定所述样品或所述额外样品的信息的最终知识蒸馏DL模型。在所述最终KD DL模型确定所述信息之前,所述知识蒸馏组件经配置以用于使用所述经组合输出对所述最终知识蒸馏DL模型进行监督式训练。

    用于基于半导体应用的无监督或自我监督的深度学习

    公开(公告)号:CN117561539A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202280043897.9

    申请日:2022-10-03

    Abstract: 提供用于确定样品的信息的方法及系统。一种系统包含计算机子系统及由所述计算机子系统执行的一或多个组件,所述一或多个组件包含在无经标记数据的情况下(例如,以无监督或自我监督方式)进行训练且经配置以从包含至少一样品图像或从所述样品图像产生的数据的一或多个输入产生样品的参考的深度学习(DL)模型。所述计算机子系统经配置用于从所述参考及至少所述样品图像或从所述样品图像产生的所述数据确定所述样品的信息。

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