组件分析方法及相关装置

    公开(公告)号:CN114675988B

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202210255463.7

    申请日:2022-03-15

    Inventor: 章清 龙明康 刘坤

    Abstract: 本申请公开了一种组件分析方法及相关装置,所述组件分析方法包括:接收第一组件的第一指标的异常信息;判断所述第一组件是否未调用其他组件或者所述第一组件调用的所述其他组件的第一指标是否均未发生异常;其中,所述其他组件的个数为至少一个;若是,则判定所述第一指标的异常是由于所述第一组件导致;否则,获得被所述第一组件调用且所述第一指标发生异常的第二组件,将所述第二组件作为第一组件,并返回至判断所述第一组件是否未调用其他组件或者所述第一组件调用的所述其他组件的第一指标是否均未发生异常的步骤。通过上述方式,本申请能够定位到导致系统或组件异常的根因。

    组件分析方法及相关装置

    公开(公告)号:CN114675988A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210255463.7

    申请日:2022-03-15

    Inventor: 章清 龙明康 刘坤

    Abstract: 本申请公开了一种组件分析方法及相关装置,所述组件分析方法包括:接收第一组件的第一指标的异常信息;判断所述第一组件是否未调用其他组件或者所述第一组件调用的所述其他组件的第一指标是否均未发生异常;其中,所述其他组件的个数为至少一个;若是,则判定所述第一指标的异常是由于所述第一组件导致;否则,获得被所述第一组件调用且所述第一指标发生异常的第二组件,将所述第二组件作为第一组件,并返回至判断所述第一组件是否未调用其他组件或者所述第一组件调用的所述其他组件的第一指标是否均未发生异常的步骤。通过上述方式,本申请能够定位到导致系统或组件异常的根因。

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