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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102053223B
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN200910112750.7
申请日：2009-11-06
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/327 , G01R27/02
Abstract: 一种电子设备中硅胶触点可靠性的测试方法，首先设计一测试系统，包括显示单元、采样系统、可调节厚度的电路组件；所述显示单元与所述可调节厚度的电路组件均连接到所述采样系统；所述采样系统包括CPU及与CPU相连接的采样处理单元，该采样处理单元包括与硅胶触点相接触的短路开关等效电阻、已知的参考电阻、供电电源、采样电源；所述等效电阻电连接供电电源；所述参考电阻接地；所述采样电源连接到等效电阻与参考电阻之间。然后将测试系统中可调节厚度的电路组件装入被测产品的机壳中，调节“可调节厚度的电路组件”使得厚度在一定的范围之间变化，测量每个变化值时侯的短路开关的接触电阻，完成对每个短路开关测试的功能。
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公开(公告)号：CN102520301A
公开(公告)日：2012-06-27
申请号：CN201110381677.0
申请日：2011-11-25
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/02
Abstract: 本发明提供了一种按键的矩阵键盘的测试方法，它需要包括一矩阵键盘、一可编程逻辑器件，它包括如下步骤：1：所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；2：所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将模拟按键信号通过测试点发送到CPU；3：所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接异常。本发明能够实现自动测试，而且能够提高测试效率和测试覆盖率。
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公开(公告)号：CN102053223A
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN200910112750.7
申请日：2009-11-06
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/327 , G01R27/02
Abstract: 一种电子设备中硅胶触点可靠性的测试方法，首先设计一测试系统，包括显示单元、采样系统、可调节厚度的电路组件；所述显示单元与所述可调节厚度的电路组件均连接到所述采样系统；所述采样系统包括CPU及与CPU相连接的采样处理单元，该采样处理单元包括与硅胶触点相接触的短路开关等效电阻、已知的参考电阻、供电电源、采样电源；所述等效电阻电连接供电电源；所述参考电阻接地；所述采样电源连接到等效电阻与参考电阻之间。然后将测试系统中可调节厚度的电路组件装入被测产品的机壳中，调节“可调节厚度的电路组件”使得厚度在一定的范围之间变化，测量每个变化值时侯的短路开关的接触电阻，完成对每个短路开关测试的功能。
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公开(公告)号：CN102520301B
公开(公告)日：2014-03-05
申请号：CN201110381677.0
申请日：2011-11-25
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/02
Abstract: 本发明提供了一种按键的矩阵键盘的测试方法，它需要包括一矩阵键盘、一可编程逻辑器件，它包括如下步骤：1：所述矩阵键盘连接到CPU的线路通过测试点连接到可编程逻辑器件上，所述矩阵键盘上选择复数个按键，所述按键覆盖了矩阵键盘连接到CPU的所有口线；2：所述可编程逻辑器件模拟所选择的按键信号，将模拟按键信号通过测试点发送到CPU；3：所述CPU若是接收到所述可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接正常，若是接收不到可编程逻辑器件发送的模拟按键信号，则表示口线与CPU焊接异常。本发明能够实现自动测试，而且能够提高测试效率和测试覆盖率。
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公开(公告)号：CN201532443U
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：CN200920181216.7
申请日：2009-11-06
Applicant: 福建联迪商用设备有限公司
IPC: G01R31/327
Abstract: 一种电子设备中硅胶触点可靠性的测试系统，包括显示单元、采样系统、可调节厚度的电路组件；所述显示单元与所述可调节厚度的电路组件均连接到所述采样系统；所述采样系统包括CPU及与CPU相连接的采样处理单元，该采样处理单元包括与硅胶触点相接触的短路开关等效电阻、已知的参考电阻、供电电源、采样电源；所述等效电阻电连接供电电源；所述参考电阻接地；所述采样电源连接到等效电阻与参考电阻之间。该测试系统中可调节厚度的电路组件装入被测产品的机壳中，调节“可调节厚度的电路组件”使得厚度在一定的范围之间变化，测量每个变化值时侯的短路开关的接触电阻，完成对每个短路开关测试的功能。
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