公开(公告)号：CN103033518B

公开(公告)日：2015-06-03

申请号：CN201210581458.1

申请日：2012-12-28

Applicant: 福建工程学院

Inventor： 余罗兼 ,  何炳蔚 ,  陈世辉 ,  龚世代

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明公开了一种微小环型磁性元件的视觉检测方法，包括步骤：S1、对微小环型磁性元件的两个端面进行拍照并将照片发送到图片处理器上；S2、图片处理器对图片进行分析处理得到微小环型磁性元件上各种缺陷的线度，其中，线度为微小环型磁性元件上的缺陷的各点之间最长的一条连线的长度；S3、确定微小环型磁性元件是否为残次品，其中，图片处理器中预存不同缺陷线度的允许值，图片处理器将微小环型磁性元件上各种缺陷的线度与对应的允许值比较检测出残次品，同时公布了一种完成上述方法的设备，使用本发明的方法和设备检测微小环型磁性元件，提高了检测的效率、提高了检测的准确度人物的引起的错误检测。

公开(公告)号：CN103033518A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201210581458.1

申请日：2012-12-28

Applicant: 福建工程学院

Inventor： 余罗兼 ,  何炳蔚 ,  陈世辉 ,  龚世代

IPC: G01N21/88

Abstract: 本发明公开了一种微小环型磁性元件的视觉检测方法，包括步骤：S1、对微小环型磁性元件的两个端面进行拍照并将照片发送到图片处理器上；S2、图片处理器对图片进行分析处理得到微小环型磁性元件上各种缺陷的线度，其中，线度为微小环型磁性元件上的缺陷的各点之间最长的一条连线的长度；S3、确定微小环型磁性元件是否为残次品，其中，图片处理器中预存不同缺陷线度的允许值，图片处理器将微小环型磁性元件上各种缺陷的线度与对应的允许值比较检测出残次品，同时公布了一种完成上述方法的设备，使用本发明的方法和设备检测微小环型磁性元件，提高了检测的效率、提高了检测的准确度人物的引起的错误检测。