一种可调节紧凑拉伸试样夹具

    公开(公告)号:CN220708903U

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202322309856.4

    申请日:2023-08-28

    Abstract: 本实用新型涉及材料韧性测试技术领域,本实用新型公开一种可调节紧凑拉伸试样夹具,包括夹具杆,夹具杆一端面设置有传动组件,夹具杆两侧分别固定连接有螺纹杆,传动组件位于两螺纹杆之间;传动组件包括安装于夹具杆上可转动的齿轮,齿轮上下两侧分别啮合有第一齿条和第二齿条,第一齿条和第二齿条相互远离端分别连接有固定组件,两固定组件分别滑动套设在两螺纹杆上,两固定组件之间夹持有试样;固定组件远离夹具杆的一侧设置有锁定件,锁定件螺纹连接在螺纹杆上且对固定组件限位。本实用新型能解决因固定夹具与试样不匹配而带来的试样误差或操作上的不便;可进一步提高该夹具稳定性,并进一步减小测量误差。

    金相显微镜检测固定装置

    公开(公告)号:CN203465186U

    公开(公告)日:2014-03-05

    申请号:CN201320532594.1

    申请日:2013-08-29

    Abstract: 一种金相显微镜检测固定装置,其要点在于它包括外层固定框架、第一层调节架、第二层调节架、显微镜固定架,四者依次由外到内固定连接,第一层调节架的中心轴线上对称分布有两个摆动轴A与外层固定框架相连,二者通过固定件进行固定,第二层调节架的中心轴线上对称分布有两个摆动轴B与第一层调节架相连,二者通过固定件进行固定,摆动轴A与摆动轴B相垂直,显微镜固定架固定于第二层调节架。本实用新型对检测对象表面曲率半径无要求;显微镜调整更加灵活、精确。不必受限于待检测试件,可实现显微镜在三维空间内任意调整,且具有微调功能。

    金相检测磨抛机的固定装置

    公开(公告)号:CN203414323U

    公开(公告)日:2014-01-29

    申请号:CN201320567732.X

    申请日:2013-09-13

    Abstract: 一种金相检测磨抛机的固定装置,其要点在于它包括固定架、调节管,调节管为两节结构,中间由活动关节进行连接,所述的活动关节由抱箍固定板、固定于抱箍固定板上表面的两个抱箍及固定于两个抱箍内的三通调节头组成,抱箍固定板一端为与调节管连接的螺柱,另一端为平面,用于固定抱箍,第一根调节管的一端与固定架连接,另一端与抱箍固定板的螺柱连接,第二根调节管的一端与三通调节头连接,另一端内部具有轴承,并通过轴承与磨抛机的固定夹连接。本实用新型调整灵活、精确,不必受限于待检测试件,可实现磨抛机在三维空间内任意角度调整;当各调整组件固定后,可保持磨抛机在某一空间平面内自由旋转,以实现对任意空间平面的打磨抛光。

    一种钢管腐蚀扫查仪
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN210136205U

    公开(公告)日:2020-03-10

    申请号:CN201920956379.1

    申请日:2019-06-24

    Abstract: 本实用新型提供了一种钢管腐蚀扫查仪,包括有扫描探头和检测主体,扫描探头通过数据线与所述检测主体连接,所述检测主体包括上壳体和下壳体,上壳体和下壳体内设置有带有MCU处理器的电路板,所述电路板上设置低噪声放大器、滤波器、移相器、交流励磁器、声光报警器;所述低噪声放大器经滤波器与所述MCU处理器连接,所述MCU处理器经移相器与所述低噪声放大器连接,MCU处理器与交流励磁器连接,所述上壳体上设置有显示屏和触摸屏,显示屏、触摸屏、声光报警器均与所述MCU处理器连接;所述扫描探头包括涡流探头,涡流探头设置于座体上,座体的底部四周设置有移动轮,所述座体一侧设置有一弧形手提柄;该检测速度快,提高了工作效率。

    全方位金相检测显微镜的固定装置

    公开(公告)号:CN203414400U

    公开(公告)日:2014-01-29

    申请号:CN201320568084.X

    申请日:2013-09-13

    Abstract: 全方位金相检测显微镜的固定装置,其要点在于它包括固定架、调节管、显微镜固定框组件,调节管为两节结构,中间由活动关节进行连接,所述的活动关节由抱箍固定板、固定于抱箍固定板上表面的两个抱箍及固定于两个抱箍内的三通调节头组成,抱箍固定板一端为与调节管连接的螺柱,另一端为平面,用于固定抱箍,第一根调节管的一端与固定架连接,另一端与抱箍固定板的螺柱连接,第二根调节管的一端与三通调节头连接,另一端内部具有轴承,并通过轴承与显微镜固定框组件连接。本实用新型对检测对象表面曲率半径无要求;显微镜调整更加灵活、精确。不必受限于待检测试件,可实现显微镜在三维空间内任意调整,且具有微调功能。

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