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发明公开
测定硅锰合金、硅铁合金元素的X射线荧光光谱仪分析法无效

公开(公告)号：CN103884730A

公开(公告)日：2014-06-25

申请号：CN201210564808.3

申请日：2012-12-24

Applicant: 福建三钢闽光股份有限公司 , 福建省三钢(集团)有限责任公司

Inventor： 温春禄 , 黄云华 , 赖臻成 , 伍玉根

IPC: G01N23/223 , G01N1/28 , G01N1/44

Abstract: 一种测定硅锰合金、硅铁合金元素的X射线荧光光谱仪分析法，包括①铂黄坩埚内加入硅锰合金或硅铁合金样品及辅料；②分步氧化；③冷却；④加入脱膜剂熔融；⑤制片；⑥光谱仪检测，其特征在于：在步骤①前增设铂黄坩埚预处理前置步骤，该步骤为：称取4.0000g～6.0000g四硼酸锂于铂黄坩埚中，放入高频熔融炉于1000℃～1200℃融化后打底挂壁，转动铂黄坩埚使熔化的熔剂均匀平铺在坩埚壁和坩埚底上，而后取下铂黄坩埚冷却至室温。优点在于：试样氧化完全之前隔离了试样与铂黄坩埚的直接接触，解决了硅锰合金、硅铁合金使铂黄坩埚合金化的问题。分析结果准确，精密度高。

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