公开(公告)号：CN107765199A

公开(公告)日：2018-03-06

申请号：CN201710941117.3

申请日：2017-10-11

Applicant: 福州大学

Inventor： 汪晶慧 ,  张宇超 ,  陈为

IPC: G01R33/12

CPC classification number: G01R33/1223

Abstract: 本发明涉及一种磁性元件幅值磁导率和增量磁导率的直流励磁测量方法。首先，在磁性元件两端施加直流激励源，磁性元件充电至所需幅值电流；而后，磁性元件中的电流通过二极管和电阻放电至零，同时采样磁性元件放电过程的电压波形u(t)和电流波形i(t)；最后，对电压波形u(t)和电流波形i(t)进行数据处理获得幅值磁导率和增量磁导率。本发明的直流励磁法中磁性元件两端直接施加直流激励源，完全避免了交流对直流磁导率测量的影响；测量方法简单可行，操作便捷，并且具有较高的测量精度。

公开(公告)号：CN108427085B

公开(公告)日：2019-11-12

申请号：CN201810248393.6

申请日：2018-03-24

Applicant: 福州大学

Inventor： 汪晶慧 ,  张宇超 ,  陈为

IPC: G01R33/16

Abstract: 本发明涉及一种测量磁性材料磁化特性的方法，在原有交流振荡法的基础上，对测试电路进行改进，并在改进的测试电路上进行测量与计算。本发明避免了数据处理过程中的微分计算，从而提高了交流振荡法的测量精度，实现交流振荡法对磁性元件磁化特性的精确测量。

公开(公告)号：CN107765199B

公开(公告)日：2019-06-07

申请号：CN201710941117.3

申请日：2017-10-11

Applicant: 福州大学

Inventor： 汪晶慧 ,  张宇超 ,  陈为

IPC: G01R33/12

Abstract: 本发明涉及一种磁性元件幅值磁导率和增量磁导率的直流励磁测量方法。首先，在磁性元件两端施加直流激励源，磁性元件充电至所需幅值电流；而后，磁性元件中的电流通过二极管和电阻放电至零，同时采样磁性元件放电过程的电压波形u(t)和电流波形i(t)；最后，对电压波形u(t)和电流波形i(t)进行数据处理获得幅值磁导率和增量磁导率。本发明的直流励磁法中磁性元件两端直接施加直流激励源，完全避免了交流对直流磁导率测量的影响；测量方法简单可行，操作便捷，并且具有较高的测量精度。

公开(公告)号：CN108427085A

公开(公告)日：2018-08-21

申请号：CN201810248393.6

申请日：2018-03-24

Applicant: 福州大学

Inventor： 汪晶慧 ,  张宇超 ,  陈为

IPC: G01R33/16

Abstract: 本发明涉及一种测量磁性材料磁化特性的方法，在原有交流振荡法的基础上，对测试电路进行改进，并在改进的测试电路上进行测量与计算。本发明避免了数据处理过程中的微分计算，从而提高了交流振荡法的测量精度，实现交流振荡法对磁性元件磁化特性的精确测量。