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公开(公告)号：CN103630746B
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201310641871.7
申请日：2013-12-04
Applicant: 福州大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明涉及一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法。将气隙去除，构成无气隙磁元件，沿原气隙位置绕制气隙等效绕组，气隙等效绕组的宽度等于对应气隙的宽度，根据气隙等效绕组的磁动势可以等效替代气隙磁压降作用的原理，以保持等效前、后的磁元件绕组窗口内的磁场分布不变，将气隙等效绕组的端口短路，采用两端交流阻抗测量仪器测得无气隙磁元件励磁绕组两端的交流电阻，然后按一定规律扣除气隙等效绕组折算反射到励磁绕组侧的电阻，得到所述有气隙磁元件励磁绕组的交流电阻。该方法不仅可以方便、有效地评估对比不同气隙设计方案对励磁绕组交流电阻的影响，也可以准确地测量有气隙磁元件的绕组交流电阻，测量方便、快捷、成本低。
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公开(公告)号：CN103226187B
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201310144862.7
申请日：2013-04-23
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明涉及一种磁性元件损耗测量方法，采用一功率变换器作为测试电路，在工况下测量所述测试电路的输入功率，然后选择所述测试电路中磁性元件的两端点并将被测磁性元件并联在所述两端点，之后测量并联被测磁性元件后所述测试电路的输入功率，并联被测磁性元件前后所述测试电路的输入功率之差即为所述被测磁性元件在工况下的损耗。该方法不仅提高了磁性元件损耗的测量精度，而且测量方便简单，成本低。
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公开(公告)号：CN104133118A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410417495.8
申请日：2014-08-23
Applicant: 福州大学
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明涉及一种磁性元件损耗测量的定标方法，采用一DC/AC逆变电路作为测试电路以及励磁激励源，以一已知损耗的定标电感作为所述测试电路的被测件，测量励磁下所述测试电路的直流输入功率，将所述直流输入功率扣除所述定标电感的已知损耗，获得所述测试电路本身的固有损耗，针对所述测试电路的固有损耗特性建立所述固有损耗的公式，根据所述测试电路的固有损耗拟合出所述公式中的各项系数，形成所述测试电路的固有损耗定标模型，再进一步根据测量实际被测件时的所述测试电路的输入直流功率，扣除所述测试电路本身的固有损耗，获得所述实际被测件的损耗。该方法不仅提高了磁性元件损耗的测量精度，而且测量方便简单，成本低。
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公开(公告)号：CN103630746A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201310641871.7
申请日：2013-12-04
Applicant: 福州大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明涉及一种测量和评估有气隙磁元件绕组交流电阻的方法。将气隙去除，构成无气隙磁元件，沿原气隙位置绕制气隙等效绕组，气隙等效绕组的宽度等于对应气隙的宽度，根据气隙等效绕组的磁动势可以等效替代气隙磁压降作用的原理，以保持等效前、后的磁元件绕组窗口内的磁场分布不变，将气隙等效绕组的端口短路，采用两端交流阻抗测量仪器测得无气隙磁元件励磁绕组两端的交流电阻，然后按一定规律扣除气隙等效绕组折算反射到励磁绕组侧的电阻，得到所述有气隙磁元件励磁绕组的交流电阻。该方法不仅可以方便、有效地评估对比不同气隙设计方案对励磁绕组交流电阻的影响，也可以准确地测量有气隙磁元件的绕组交流电阻，测量方便、快捷、成本低。
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公开(公告)号：CN103226187A
公开(公告)日：2013-07-31
申请号：CN201310144862.7
申请日：2013-04-23
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明涉及一种磁性元件损耗测量方法，采用一功率变换器作为测试电路，在工况下测量所述测试电路的输入功率，然后选择所述测试电路中磁性元件的两端点并将被测磁性元件并联在所述两端点，之后测量并联被测磁性元件后所述测试电路的输入功率，并联被测磁性元件前后所述测试电路的输入功率之差即为所述被测磁性元件在工况下的损耗。该方法不仅提高了磁性元件损耗的测量精度，而且测量方便简单，成本低。
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