一种表面清洁的高缺陷密度单层二硫化钼纳米片的制备方法

    公开(公告)号:CN117383614A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311450963.7

    申请日:2023-11-03

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明公开了一种表面洁净、缺陷可控的单层二硫化钼纳米片的制备方法,属于功能材料合成技术领域。本发明采用钼酸盐为钼源、硫离子为硫源,在弱酸性条件下,通过水热处理使其发生氧化还原反应生成二硫化钼。所得二硫化钼即使在没有任何表面活性剂的情况下,二硫化钼也可以通过超声处理高效地剥离成单层纳米片,因此所获得的单层二硫化钼纳米片具有表面清洁的特点。并且所得单层二硫化钼纳米片包含两种类型的缺陷,即一种是由高价态Mo原子的掺入引起的缺陷,另一种是由于S22‑的掺入而引起的缺陷。通过控制原料中钼源和硫源的比例,可以容易地调节这两种类型缺陷的密度。

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