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公开(公告)号：CN115480208A
公开(公告)日：2022-12-16
申请号：CN202210661506.1
申请日：2022-06-13
Applicant: 硅实验室公司
Abstract: AoX多径检测。公开了一种用于检测多径环境的系统和方法。创建基于方位角和仰角的第一伪谱。该第一伪谱的结果用于基于极化和场比创建第二伪谱。这两个伪谱的结果的锐度被确定，并且可以用于检测多径环境是否存在。如果认为存在多径环境，则在确定对象的空间位置时忽略来自该设备的结果。
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