公开(公告)号：CN101680956A

公开(公告)日：2010-03-24

申请号：CN200880020825.2

申请日：2008-05-23

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： R·普罗克绍 ,  J-P·施洛姆卡 ,  E·勒斯尔 ,  T·利兰 ,  A·马克斯

IPC: G01T1/17

CPC classification number: G01T1/171

Abstract: 一种装置包括局部最小值识别器(408)和脉冲堆积误差校正器(232)，所述局部最小值识别器(408)识别信号中的重叠脉冲之间的局部最小值，其中所述脉冲具有指示由辐射敏感探测器相继探测的来自多能量辐射束的光子的能量的幅值，而所述脉冲堆积误差校正器(232)在使用对应于不同能级的至少两个阈值对所述脉冲进行能量鉴别时，基于所述局部最小值校正脉冲堆积能量鉴别误差。这一技术可以减少当以高计数率对光子计数时的谱误差。

公开(公告)号：CN101680956B

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：CN200880020825.2

申请日：2008-05-23

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： R·普罗克绍 ,  J-P·施洛姆卡 ,  E·勒斯尔 ,  T·利兰 ,  A·马克斯

IPC: G01T1/17

CPC classification number: G01T1/171

Abstract: 一种装置包括局部最小值识别器(408)和脉冲堆积误差校正器(232)，所述局部最小值识别器(408)识别信号中的重叠脉冲之间的局部最小值，其中所述脉冲具有指示由辐射敏感探测器相继探测的来自多能量辐射束的光子的能量的幅值，而所述脉冲堆积误差校正器(232)在使用对应于不同能级的至少两个阈值对所述脉冲进行能量鉴别时，基于所述局部最小值校正脉冲堆积能量鉴别误差。这一技术可以减少当以高计数率对光子计数时的谱误差。

公开(公告)号：CN101918859A

公开(公告)日：2010-12-15

申请号：CN200880111693.4

申请日：2008-10-09

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： A·马克斯 ,  T·利兰

IPC: G01T1/17

CPC classification number: G01T1/171

Abstract: 本发明描述了一种粒子计数装置，用于当从粒子检测器接收到电荷脉冲时，减小所得的脉冲宽度，从而缓解脉冲的堆积问题(pile-up)。通过在装置输出处脉冲超过峰值水平时立刻对该脉冲进行复位，可以获得脉冲缩短。该装置包括电荷敏感放大器和产生用于后续鉴别电路的输出的整形器。复位产生器监测整形器输出，并在检测到峰值时产生复位信号给整形器。